光学等离激元测试实验

信息概要

光学等离激元测试实验是基于表面等离子体共振（SPR）及局域表面等离子体共振（LSPR）原理的创新性检测技术，主要用于纳米材料、生物传感器、光电器件等领域的产品性能分析。通过准确测量材料的光学响应与电磁场增强特性，该技术可评估产品的稳定性、灵敏度及功能性。检测的重要性体现在质量控制、研发优化、行业标准符合性验证以及安全隐患排查等多个维度，是确保产品竞争力和技术前沿性的核心环节。

检测项目

• 表面等离子体共振波长
• 局域表面等离子体共振强度
• 消光光谱峰值稳定性
• 纳米结构形貌与尺寸分布
• 电磁场增强因子
• 共振峰的半峰宽（FWHM）
• 材料介电常数测定
• 表面吸附分子密度分析
• 热稳定性测试
• 光热转换效率
• 散射光谱特性
• 反射率与透射率测量
• 抗环境干扰能力评估
• 长时间循环稳定性测试
• 表面修饰层均匀性检测
• 近场光学特性分析
• 电荷转移效率测试
• 光学响应时间测定
• 非线性光学特性验证
• 多波长协同效应评估

检测范围

• 金纳米颗粒
• 银纳米线阵列
• 铝基等离子体材料
• 二氧化硅包覆纳米结构
• 石墨烯复合等离子体器件
• 生物分子功能化传感器
• 贵金属薄膜器件
• 半导体-金属异质结构
• 光子晶体集成器件
• 纳米孔阵列器件
• 柔性透明导电薄膜
• 超表面光学元件
• 等离激元激光器
• 表面增强拉曼基底
• 等离激元催化材料
• 纳米天线阵列
• 等离激元光伏器件
• 微流控芯片集成传感器
• 等离激元成像探针
• 多功能纳米诊疗平台

检测方法

• 表面等离子体共振光谱法（SPR Spectroscopy）——通过入射角扫描测定共振波长偏移
• 暗场散射显微术（Dark-Field Microscopy）——分析单颗粒散射光谱
• 时域有限差分法（FDTD Simulation）——数值模拟电磁场分布
• 透射电子显微镜（TEM）——纳米结构形貌表征
• 紫外-可见-近红外分光光度法（UV-Vis-NIR）——测量消光光谱
• 原子力显微镜（AFM）——表面粗糙度与三维形貌分析
• 表面增强拉曼光谱（SERS）——评估电磁场增强效应
• 椭偏仪测试（Ellipsometry）——薄膜厚度与光学常数测定
• 荧光寿命成像（FLIM）——研究等离激元-激子耦合效应
• 扫描近场光学显微镜（SNOM）——纳米尺度光场分布测量
• 电化学阻抗谱（EIS）——表面修饰层稳定性分析
• X射线光电子能谱（XPS）——表面化学成分鉴定
• 热重分析（TGA）——材料热稳定性测试
• 动态光散射（DLS）——纳米颗粒分散性评估
• 傅里叶变换红外光谱（FTIR）——分子吸附行为研究

检测仪器

• 紫外-可见-近红外分光光度计
• 表面等离子体共振成像仪
• 高分辨率透射电子显微镜
• 原子力显微镜
• 扫描电子显微镜
• 椭圆偏振光谱仪
• 暗场显微光谱系统
• 荧光光谱仪
• 拉曼光谱仪
• 纳米颗粒分析仪
• X射线衍射仪
• 电化学项目合作单位
• 热重分析仪
• 近场光学显微镜
• 时间分辨荧光检测系统

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