金线位错密度定量分析
2025-06-12 - 金线位错密度定量分析是一种用于评估材料内部缺陷（如位错）分布和密度的关键技术。该检测服务主要应用于半导体、金属材料、电子元器件等领域，通过精确测量位错密度，帮助客户优化生产工艺、提升产品性能并确保可靠性。位错密度直接影响材料的机械强度、导电性和耐久性，因此该检测对质量控制和研究开发具有重要意义。
https://www.bjhgyjs.com/jiance/xingnengjiance/67927.html - 性能检测
GB/T 32282-2015氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
2019-12-31 - 标准号：GB/T 32282-2015 中文标准名称：氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 英文标准名称：Test method for disoclation d
GB/T 33763-2017蓝宝石单晶位错密度测量方法
2019-12-23 - 标准号：GB/T 33763-2017 中文标准名称：蓝宝石单晶位错密度测量方法 英文标准名称：Test method for dislocation density of sapphi
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
2019-12-19 - 标准号：GB/T 34481-2017 中文标准名称：低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 英文标准名称：Test method for measuring et
