原子力显微镜表面形貌分析测试实验

信息概要

原子力显微镜（AFM）表面形貌分析测试是一种基于纳米级分辨率的表面表征技术，通过探针与样品表面的相互作用力获取三维形貌信息。该检测服务广泛应用于材料科学、半导体、生物医学、纳米技术等领域，能够准确表征表面粗糙度、微观结构、缺陷分布等关键参数。检测的重要性在于帮助客户优化生产工艺、评估材料性能、确保产品质量，并为研发创新提供数据支撑。

检测项目

• 表面粗糙度（Ra/Rq/Rz）
• 表面高度分布
• 微观形貌三维重建
• 台阶高度测量
• 表面缺陷密度分析
• 材料硬度分布
• 粘附力分布
• 表面摩擦力分布
• 纳米级颗粒分布统计
• 薄膜厚度均匀性
• 晶界与相界表征
• 表面电势分布
• 磁畴结构分析
• 弹性模量分布
• 表面润湿性评估
• 纳米划痕测试
• 动态模式相位成像
• 纳米尺度磨损分析
• 分子自组装结构表征
• 生物样品表面拓扑分析

检测范围

• 金属材料
• 半导体晶圆
• 高分子薄膜
• 纳米涂层
• 生物细胞膜
• 聚合物复合材料
• 陶瓷材料
• 光学器件表面
• 微机电系统（MEMS）
• 石墨烯材料
• 量子点材料
• 液晶显示面板
• 储能材料电极
• 药物载体颗粒
• 光纤端面
• 太阳能电池涂层
• 金属有机框架材料
• 微流控芯片表面
• 纳米压印模板
• 腐蚀防护涂层

检测方法

• 接触模式（直接探针接触表面扫描）
• 非接触模式（利用范德华力进行振动检测）
• 轻敲模式（间歇接触减少样品损伤）
• 相位成像（分析材料粘弹性差异）
• 力曲线分析（测量局部力学特性）
• 磁力显微镜模式（MFM）
• 静电力显微镜模式（EFM）
• 扫描隧道显微镜联用（STM-AFM）
• 纳米压痕测试（定量力学性能表征）
• 横向力显微术（LFM）
• 峰值力轻敲模式（PeakForce Tapping）
• 高速扫描模式（视频速率成像）
• 环境控制模式（温湿度可控测试）
• 电化学AFM（原位电化学过程监测）
• 多参数同步成像（拓扑与性能同步获取）

检测仪器

• 原子力显微镜（AFM）
• 扫描电子显微镜（SEM）
• 白光干涉仪
• 激光共聚焦显微镜
• 台阶仪
• 纳米压痕仪
• X射线光电子能谱仪（XPS）
• 拉曼光谱仪
• 聚焦离子束系统（FIB）
• 椭偏仪
• 表面轮廓仪
• 动态力学分析仪（DMA）
• 接触角测量仪
• X射线衍射仪（XRD）
• 红外光谱仪（FTIR）