光学原子力显微分析测试实验

信息概要

光学原子力显微分析测试是一种基于原子力显微镜（AFM）与光学技术结合的高精度检测手段，主要用于分析材料表面形貌、力学性能及微观结构。该技术通过探针与样品表面的相互作用力，结合光学信号反馈，实现纳米级分辨率的成像与测量。检测服务涵盖材料科学、生物医学、电子器件等领域，确保产品质量、性能稳定性及工艺优化。此类检测对研发创新、缺陷分析及标准化认证具有关键作用，是提升行业竞争力的核心技术支撑。

检测项目

• 表面粗糙度分析
• 弹性模量测量
• 摩擦力分布检测
• 粘附力定量分析
• 表面电势分布
• 纳米级台阶高度测量
• 材料硬度表征
• 微观形貌三维重构
• 表面缺陷检测
• 薄膜厚度测量
• 颗粒尺寸分布统计
• 相分离结构分析
• 表面亲疏水性评估
• 动态力学响应测试
• 纳米划痕实验
• 表面电荷分布成像
• 生物分子相互作用力测量
• 微区热导率分析
• 表面化学组成映射
• 纳米结构周期性验证

检测范围

• 纳米材料
• 薄膜涂层
• 半导体器件
• 聚合物复合材料
• 生物细胞与组织
• 金属及合金
• 陶瓷材料
• 微机电系统（MEMS）
• 光学元件
• 碳纤维材料
• 石墨烯及二维材料
• 药物载体微粒
• 液晶显示屏组件
• 太阳能电池板
• 功能性纤维
• 微流控芯片
• 磁性材料
• 生物传感器
• 超疏水表面
• 集成电路封装材料

检测方法

• 接触模式AFM（直接接触探针扫描表面）
• 非接触模式AFM（利用微悬臂共振检测长程力）
• 轻敲模式AFM（间歇接触减少样品损伤）
• 力曲线分析（测量力-距离关系）
• 相位成像（表征表面粘弹性差异）
• 静电力显微镜（EFM，检测表面电势）
• 磁力显微镜（MFM，分析磁性分布）
• 扫描热显微镜（SThM，测量热导率）
• 纳米压痕测试（定量力学性能）
• 化学力显微镜（CFM，识别化学基团）
• 频移成像（动态力学特性分析）
• 高速AFM（实时观测动态过程）
• 多参数同步成像（形貌与物理性能同步采集）
• 横向力显微镜（LFM，表征摩擦力分布）
• 流体AFM（液体环境下的原位表征）

检测仪器

• 原子力显微镜（AFM）
• 激光共聚焦显微镜
• 纳米压痕仪
• 扫描电子显微镜（SEM）
• 表面轮廓仪
• 拉曼光谱仪
• 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）
• X射线光电子能谱仪（XPS）
• 动态力学分析仪（DMA）
• 白光干涉仪
• 探针式轮廓仪
• 热重分析仪（TGA）
• 紫外可见分光光度计
• 显微硬度计
• 激光干涉仪

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