光学原子力显微分析测试实验
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信息概要
光学原子力显微分析测试是一种基于原子力显微镜(AFM)与光学技术结合的高精度检测手段,主要用于分析材料表面形貌、力学性能及微观结构。该技术通过探针与样品表面的相互作用力,结合光学信号反馈,实现纳米级分辨率的成像与测量。检测服务涵盖材料科学、生物医学、电子器件等领域,确保产品质量、性能稳定性及工艺优化。此类检测对研发创新、缺陷分析及标准化认证具有关键作用,是提升行业竞争力的核心技术支撑。
检测项目
- 表面粗糙度分析
- 弹性模量测量
- 摩擦力分布检测
- 粘附力定量分析
- 表面电势分布
- 纳米级台阶高度测量
- 材料硬度表征
- 微观形貌三维重构
- 表面缺陷检测
- 薄膜厚度测量
- 颗粒尺寸分布统计
- 相分离结构分析
- 表面亲疏水性评估
- 动态力学响应测试
- 纳米划痕实验
- 表面电荷分布成像
- 生物分子相互作用力测量
- 微区热导率分析
- 表面化学组成映射
- 纳米结构周期性验证
检测范围
- 纳米材料
- 薄膜涂层
- 半导体器件
- 聚合物复合材料
- 生物细胞与组织
- 金属及合金
- 陶瓷材料
- 微机电系统(MEMS)
- 光学元件
- 碳纤维材料
- 石墨烯及二维材料
- 药物载体微粒
- 液晶显示屏组件
- 太阳能电池板
- 功能性纤维
- 微流控芯片
- 磁性材料
- 生物传感器
- 超疏水表面
- 集成电路封装材料
检测方法
- 接触模式AFM(直接接触探针扫描表面)
- 非接触模式AFM(利用微悬臂共振检测长程力)
- 轻敲模式AFM(间歇接触减少样品损伤)
- 力曲线分析(测量力-距离关系)
- 相位成像(表征表面粘弹性差异)
- 静电力显微镜(EFM,检测表面电势)
- 磁力显微镜(MFM,分析磁性分布)
- 扫描热显微镜(SThM,测量热导率)
- 纳米压痕测试(定量力学性能)
- 化学力显微镜(CFM,识别化学基团)
- 频移成像(动态力学特性分析)
- 高速AFM(实时观测动态过程)
- 多参数同步成像(形貌与物理性能同步采集)
- 横向力显微镜(LFM,表征摩擦力分布)
- 流体AFM(液体环境下的原位表征)
检测仪器
- 原子力显微镜(AFM)
- 激光共聚焦显微镜
- 纳米压痕仪
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 表面轮廓仪
- 拉曼光谱仪
- 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)
- X射线光电子能谱仪(XPS)
- 动态力学分析仪(DMA)
- 白光干涉仪
- 探针式轮廓仪
- 热重分析仪(TGA)
- 紫外可见分光光度计
- 显微硬度计
- 激光干涉仪
了解中析