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我们的检测流程严格遵循国际标准和规范,确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备,配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析,我们都严格把控每个环节,以确保客户获得真实可信的检测结果。

杂质含量测试

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全国服务领域:河北、山西、黑龙江、吉林、辽宁、江苏、浙江、安徽、福建、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾、内蒙古、广西、西藏、宁夏、新疆、北京、天津、上海、重庆、香港、澳门

检测项目:杂质含量

检测周期:7-10个工作日,参考周期

检测费用:初检样品,初检之后根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价

检测项目

水分含量测试:测试样品中的水分含量,通常使用烘箱法、卡尔费休法等方法进行测试。

灰分含量测试:测试样品中的灰分含量,通常使用烘箱法、微波消解法等方法进行测试。

残留溶剂含量测试:测试样品中的有机溶剂残留含量,通常使用气相色谱法、液相色谱法等方法进行测试。

重金属含量测试:测试样品中的重金属含量,通常使用原子吸收光谱法、电感耦合离子体质谱法等方法进行测试。

细菌、霉菌含量测试:测试样品中的细菌、霉菌含量,通常使用菌落计数法、荧光定量PCR法等方法进行测试。

检测标准

ASTM C40/C40M-2011混凝土用细集料中有机杂质含量的标准试验方法

BS EN ISO 658-2002油料种子.杂质含量的测定

BS ISO 762-2003水果和蔬菜制品 矿物杂质含量的测定

BS ISO 5739-2003酪蛋白和酪蛋白酸盐 焦粒和外来杂质含量的测定 替代BS 6248-9:1984

DIN 50438-1-1995无机半导体材料的检验;用红外吸收法测定硅中杂质含量:第1部分:氧

DIN 50438-2-1982半导体工艺材料的检验; 用红外线吸收法测量硅中杂质含量;碳

DIN 50438-3-2000半导体工艺材料的检验;用红外线吸收法测量硅中杂质含量.第3部分:硼和磷

DIN 50449-1-1997半导体技术用材料的检验.红外吸收测定杂质含量.第1部分:碳含量

DIN 50449-2-1998半导体技术用材料的检验.红外吸收测定半导体的杂质含量.第2部分:镓中的硼

DIN EN ISO 658-2002油籽.杂质含量的测定

检测优势

1、中析研究所是双高新技术企业,检测资质齐全,实验室仪器先进,科研团队强大。

2、多家实验室分支,总部位于北京,在上海、广州、江苏、济南、四川等都有分支实验室。

3、初检样品,初检之后根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。

4、检测周期短,检测费用低,实验方案齐全。

5、检测报告认可,支持扫码查询真伪,检测报告认可度高。

检测报告用途

1、销售使用

2、研发使用

3、工业问题诊断

4、科研论文/市场抽检数据使用

5、投标竞标

6、项目工程等

检测流程

1、寄样

2、初检

3、报价

4、签订保密协议

5、开始实验

6、结束实验

7、后期服务

以上是对于杂质含量检测的相关介绍,如有其它检测需求可以咨询实验室工程师,为您一对一服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于杂质含量测试的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

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