微纳尺度局部腐蚀测试

信息概要

微纳尺度局部腐蚀测试是一种针对材料在微观或纳米尺度下局部腐蚀行为的精密检测技术。该测试通过分析材料表面的腐蚀形貌、成分变化及电化学特性，评估其在特定环境中的耐腐蚀性能。此类检测对于航空航天、能源装备、电子器件等高端领域至关重要，可有效预防因局部腐蚀导致的材料失效，延长产品使用寿命，保障设备安全运行。

检测项目

• 腐蚀坑深度分布
• 局部腐蚀速率
• 表面氧化膜厚度
• 元素成分偏析
• 晶间腐蚀敏感性
• 点蚀电位测定
• 钝化膜稳定性
• 微区电化学阻抗
• 应力腐蚀开裂倾向
• 腐蚀产物成分分析
• 表面粗糙度变化
• 亚表面裂纹扩展
• 局部电流密度分布
• 腐蚀形貌三维重构
• 氢脆敏感性评估
• 界面腐蚀行为
• 纳米级缺陷表征
• 腐蚀疲劳寿命预测
• 微电池效应分析
• 环境介质渗透深度

检测范围

• 航空铝合金构件
• 核电不锈钢管道
• 海洋平台用钢
• 微电子镀金触点
• 医疗器械钛合金
• 燃料电池双极板
• 石油钻探工具
• 汽车镁合金部件
• 半导体封装材料
• 高温合金叶片
• 锂离子电池集流体
• 光伏组件金属电极
• 化工反应釜衬里
• 船舶防腐涂层
• 超导材料基板
• 3D打印金属件
• 柔性电子导电层
• 核废料容器材料
• 石墨烯复合涂层
• 磁性材料保护膜

检测方法

• 扫描电化学显微镜（SECM）：实现微米级局部电化学响应测量
• 原子力显微镜（AFM）：纳米级表面形貌与力学性能同步分析
• 聚焦离子束（FIB）：制备横截面样品并进行三维重构
• X射线光电子能谱（XPS）：表面化学状态及元素价态分析
• 微区拉曼光谱：腐蚀产物相组成原位鉴定
• 电子背散射衍射（EBSD）：晶界腐蚀行为与晶体取向关联分析
• 局部电化学阻抗谱（LEIS）：毫米至微米尺度阻抗分布测量
• 扫描开尔文探针（SKP）：表面电位分布无损检测
• 二次离子质谱（SIMS）：痕量元素深度剖析
• 同步辐射X射线断层扫描：亚表面腐蚀三维可视化
• 扫描隧道显微镜（STM）：原子级表面电子态观测
• 数字图像相关（DIC）：腐蚀应变场定量分析
• 微液滴腐蚀测试：模拟局部潮湿环境腐蚀
• 扫描振动电极技术（SVET）：局部电流密度矢量测量
• 共聚焦激光显微镜：动态腐蚀过程实时监测

检测仪器

• 场发射扫描电子显微镜
• 原子力电化学联用系统
• 纳米压痕仪
• X射线衍射仪
• 辉光放电光谱仪
• 激光共聚焦拉曼光谱仪
• 微区X射线荧光光谱仪
• 扫描探针显微镜
• 聚焦离子束双束系统
• 原位电化学原子力显微镜
• 三维表面轮廓仪
• 环境控制型SEM
• 超微量天平
• 高通量电化学项目合作单位
• 同步辐射光束线终端

了解中析

实验室仪器

合作客户