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俄歇电子能谱仪(AES)测试仪器-表面分析仪器

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俄歇电子能谱仪(AES)

主要用途

俄歇电子能谱仪是用于表面元素分析的高端设备。广泛应用于材料科学、半导体等领域,能够进行微区表面元素分析和化学态分析。

参数指标

分析深度:≤5nm;空间分辨率:≤10nm;检测元素范围:Li-U;检测限:≤0.1at%。

主要样品类型

适用于表面分析材料,包括:金属、半导体、薄膜、涂层等。

主要实验项目

表面元素分析、微区分析、深度剖面分析、化学态分析等。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于俄歇电子能谱仪(AES)测试仪器-表面分析仪器的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

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