二次离子质谱仪(SIMS)测试仪器-表面分析仪器
承诺：我们的检测流程严格遵循国际标准和规范，确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备，配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析，我们都严格把控每个环节，以确保客户获得真实可信的检测结果。
二次离子质谱仪(SIMS)
主要用途
二次离子质谱仪是用于表面和深度剖面分析的高端设备。广泛应用于材料科学、半导体等领域，能够进行高灵敏度的元素和分子分析。
参数指标
检测限：ppb-ppt级；分析深度：≤1μm；空间分辨率：≤50nm；质量分辨率：高分辨。
主要样品类型
适用于表面分析材料，包括：半导体、薄膜、金属、陶瓷等。
主要实验项目
表面元素分析、深度剖面分析、成像分析、掺杂分布测定等。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试。
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