X射线衍射仪(XRD)测试仪器-物理测试仪器
承诺：我们的检测流程严格遵循国际标准和规范，确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备，配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析，我们都严格把控每个环节，以确保客户获得真实可信的检测结果。
X射线衍射仪(XRD)
主要用途
X射线衍射仪是用于分析物质晶体结构的仪器。广泛应用于材料科学、化学、地质学、冶金学等领域，能够确定材料的晶体结构、物相组成、晶粒大小和应力状态等重要参数。
参数指标
测角精度：±0.001°；测角重复性：0.0001°；2θ角度范围：-10°~160°；X射线光源：Cu/Co/Mo靶；最小步长：0.0001°；检出限：≥0.1%；温度范围：室温~1500℃。
主要样品类型
适用于晶体材料分析，包括：金属合金、陶瓷材料、矿物、晶体粉末、薄膜材料、高分子晶体、有机化合物晶体、纳米材料等。
主要实验项目
物相定性分析、晶格常数测定、晶粒大小分析、应力测量、薄膜厚度测定、高温相变研究、低温晶体结构分析、原位XRD测试、变温XRD分析、材料择优取向分析等。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试。
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