中析研究所
CNAS资质
CNAS资质
cma资质
CMA资质
iso认证
ISO体系
高新技术企业
高新技术企业

X射线光电子能谱仪(XPS)测试仪器-表面分析仪器

cma资质     CNAS资质     iso体系 高新技术企业

X射线光电子能谱仪(XPS)

主要用途

X射线光电子能谱仪是用于表面化学分析的高端设备。广泛应用于材料科学、催化研究、半导体等领域,能够提供材料表面的元素组成和化学态信息。

参数指标

分析深度:≤10nm;空间分辨率:≤10μm;能量分辨率:≤0.45eV;灵敏度:≥5Mcps;检测元素范围:Li-U;分析模式:点分析、线扫描、面分布。

主要样品类型

适用于固体材料表面分析,包括:金属材料、半导体、薄膜、催化剂、聚合物、陶瓷、纳米材料等。

主要实验项目

表面元素分析、化学态分析、深度剖析、表面污染检测、薄膜成分分析、催化剂表征、界面分析、吸附物种鉴定、氧化态分析等。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于X射线光电子能谱仪(XPS)测试仪器-表面分析仪器的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

了解中析

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

实验室仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

相关项目

中析研究所第三方检测机构,国家高新技术企业,主要为政府部门、事业单位、企业公司以及大学高校提供检测分析鉴定服务!
中析研究所