集成电路静电放电实验

信息概要

集成电路静电放电实验是评估集成电路在静电放电环境下的抗干扰能力和可靠性的重要测试项目。静电放电（ESD）是电子器件常见的失效原因之一，可能造成器件性能下降或永久性损坏。通过的第三方检测服务，可以确保产品符合国际标准（如IEC 61000-4-2、JESD22-A114等），提升产品质量和市场竞争力。

检测的重要性在于：验证集成电路的ESD防护设计是否有效，避免因静电放电导致的功能异常或损坏，降低售后风险。同时，检测结果可为产品改进提供数据支持，满足客户和行业对可靠性的要求。

检测项目

• 人体模型（HBM）静电放电测试
• 机器模型（MM）静电放电测试
• 充电器件模型（CDM）静电放电测试
• 传输线脉冲（TLP）测试
• ESD敏感度分类测试
• 接触放电抗扰度测试
• 空气放电抗扰度测试
• 电源引脚ESD测试
• 信号引脚ESD测试
• 接地引脚ESD测试
• 多次ESD累积效应测试
• ESD失效阈值测试
• ESD防护电路性能评估
• ESD事件波形分析
• ESD后功能验证测试
• ESD后参数漂移测试
• ESD后漏电流测试
• ESD后信号完整性测试
• 高温环境ESD测试
• 低温环境ESD测试

检测范围

• 数字集成电路
• 模拟集成电路
• 混合信号集成电路
• 微处理器
• 存储器芯片
• 电源管理IC
• 射频集成电路
• 传感器集成电路
• 通信芯片
• 接口芯片
• 逻辑IC
• 放大器IC
• 数据转换器
• 时钟发生器
• 驱动IC
• 可编程逻辑器件
• 光电集成电路
• 汽车电子IC
• 工业控制IC
• 消费电子IC

检测方法

• 人体模型（HBM）测试方法：模拟人体带电接触器件的放电过程
• 机器模型（MM）测试方法：模拟金属工具带电接触器件的放电过程
• 充电器件模型（CDM）测试方法：评估器件自身带电后的放电效应
• 传输线脉冲（TLP）测试：通过短脉冲分析ESD防护特性
• IEC 61000-4-2标准测试：验证空气放电和接触放电抗扰度
• JESD22-A114标准测试：执行HBM模型ESD测试
• JESD22-A115标准测试：执行CDM模型ESD测试
• AEC-Q100标准测试：汽车电子IC的ESD验证
• 多次脉冲累积测试：评估多次ESD事件的影响
• 高温ESD测试：在高温环境下进行ESD敏感性测试
• 低温ESD测试：在低温环境下进行ESD敏感性测试
• 失效分析测试：通过显微技术分析ESD失效机理
• 参数漂移测试：比较ESD前后电气参数变化
• 功能验证测试：检查ESD后器件功能是否正常
• 信号完整性测试：评估ESD对信号质量的影响

检测仪器

• ESD模拟器
• 传输线脉冲（TLP）测试系统
• 静电放电测试台
• 高压电源
• 示波器
• 电流探头
• 电压探头
• 静电电压表
• 环境试验箱
• 参数分析仪
• 逻辑分析仪
• 信号发生器
• 频谱分析仪
• 失效分析显微镜
• 探针台