总悬浮颗粒物（TSP）重量法检测

信息概要

总悬浮颗粒物（TSP）重量法检测是一种用于测定空气中悬浮颗粒物质量浓度的重要方法。TSP是指空气中直径小于100微米的固体或液体颗粒物的总称，其来源包括工业排放、交通污染、建筑施工等。检测TSP对于评估空气质量、制定环保政策以及保护公众健康具有重要意义。通过重量法检测，可以准确量化TSP的浓度，为环境监测和污染控制提供科学依据。

检测项目

• 总悬浮颗粒物（TSP）浓度
• 颗粒物粒径分布
• 颗粒物化学成分分析
• 重金属含量
• 有机物含量
• 无机盐含量
• 颗粒物密度
• 颗粒物形貌特征
• 颗粒物吸湿性
• 颗粒物挥发性
• 颗粒物光学特性
• 颗粒物比表面积
• 颗粒物电荷特性
• 颗粒物沉降速率
• 颗粒物来源解析
• 颗粒物毒性评估
• 颗粒物对能见度的影响
• 颗粒物对气候的影响
• 颗粒物对健康的影响
• 颗粒物对生态系统的影响

检测范围

• 工业区空气
• 城市环境空气
• 交通枢纽空气
• 建筑施工场地空气
• 矿山开采区空气
• 农业活动区空气
• 森林火灾区空气
• 室内空气
• 医院空气
• 学校空气
• 办公室空气
• 公共场所空气
• 港口码头空气
• 机场空气
• 垃圾处理场空气
• 污水处理厂空气
• 化工厂空气
• 发电厂空气
• 钢铁厂空气
• 水泥厂空气

检测方法

• 重量法：通过滤膜采集颗粒物并称重计算浓度
• β射线吸收法：利用β射线衰减测定颗粒物质量
• 振荡天平法：通过振荡频率变化测定颗粒物质量
• 光散射法：利用光散射原理测定颗粒物浓度
• 静电低压撞击器法：分离不同粒径颗粒物并测定
• 惯性撞击器法：分级采集不同粒径颗粒物
• 热光分析法：测定颗粒物中有机碳和元素碳含量
• X射线荧光法：分析颗粒物中元素组成
• 离子色谱法：测定颗粒物中水溶性离子
• 气相色谱-质谱法：分析颗粒物中有机物
• 电感耦合等离子体质谱法：测定颗粒物中重金属
• 扫描电镜法：观察颗粒物形貌特征
• 透射电镜法：分析颗粒物微观结构
• 比表面积分析法：测定颗粒物比表面积
• 沉降法：测定颗粒物沉降速率

检测仪器

• 大流量采样器
• 中流量采样器
• 小流量采样器
• β射线颗粒物监测仪
• 振荡天平颗粒物监测仪
• 光散射颗粒物计数器
• 静电低压撞击器
• 惯性撞击器
• 热光碳分析仪
• X射线荧光光谱仪
• 离子色谱仪
• 气相色谱-质谱联用仪
• 电感耦合等离子体质谱仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜

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