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总悬浮颗粒物(TSP)重量法检测

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信息概要

总悬浮颗粒物(TSP)重量法检测是一种用于测定空气中悬浮颗粒物质量浓度的重要方法。TSP是指空气中直径小于100微米的固体或液体颗粒物的总称,其来源包括工业排放、交通污染、建筑施工等。检测TSP对于评估空气质量、制定环保政策以及保护公众健康具有重要意义。通过重量法检测,可以准确量化TSP的浓度,为环境监测和污染控制提供科学依据。

检测项目

  • 总悬浮颗粒物(TSP)浓度
  • 颗粒物粒径分布
  • 颗粒物化学成分分析
  • 重金属含量
  • 有机物含量
  • 无机盐含量
  • 颗粒物密度
  • 颗粒物形貌特征
  • 颗粒物吸湿性
  • 颗粒物挥发性
  • 颗粒物光学特性
  • 颗粒物比表面积
  • 颗粒物电荷特性
  • 颗粒物沉降速率
  • 颗粒物来源解析
  • 颗粒物毒性评估
  • 颗粒物对能见度的影响
  • 颗粒物对气候的影响
  • 颗粒物对健康的影响
  • 颗粒物对生态系统的影响

检测范围

  • 工业区空气
  • 城市环境空气
  • 交通枢纽空气
  • 建筑施工场地空气
  • 矿山开采区空气
  • 农业活动区空气
  • 森林火灾区空气
  • 室内空气
  • 医院空气
  • 学校空气
  • 办公室空气
  • 公共场所空气
  • 港口码头空气
  • 机场空气
  • 垃圾处理场空气
  • 污水处理厂空气
  • 化工厂空气
  • 发电厂空气
  • 钢铁厂空气
  • 水泥厂空气

检测方法

  • 重量法:通过滤膜采集颗粒物并称重计算浓度
  • β射线吸收法:利用β射线衰减测定颗粒物质量
  • 振荡天平法:通过振荡频率变化测定颗粒物质量
  • 光散射法:利用光散射原理测定颗粒物浓度
  • 静电低压撞击器法:分离不同粒径颗粒物并测定
  • 惯性撞击器法:分级采集不同粒径颗粒物
  • 热光分析法:测定颗粒物中有机碳和元素碳含量
  • X射线荧光法:分析颗粒物中元素组成
  • 离子色谱法:测定颗粒物中水溶性离子
  • 气相色谱-质谱法:分析颗粒物中有机物
  • 电感耦合等离子体质谱法:测定颗粒物中重金属
  • 扫描电镜法:观察颗粒物形貌特征
  • 透射电镜法:分析颗粒物微观结构
  • 比表面积分析法:测定颗粒物比表面积
  • 沉降法:测定颗粒物沉降速率

检测仪器

  • 大流量采样器
  • 中流量采样器
  • 小流量采样器
  • β射线颗粒物监测仪
  • 振荡天平颗粒物监测仪
  • 光散射颗粒物计数器
  • 静电低压撞击器
  • 惯性撞击器
  • 热光碳分析仪
  • X射线荧光光谱仪
  • 离子色谱仪
  • 气相色谱-质谱联用仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 扫描电子显微镜
  • 透射电子显微镜

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于总悬浮颗粒物(TSP)重量法检测的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

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