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碳纳米管纱线纬向导电拉伸(ΔR/R₀≤5%,四探针法)

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-07-02  /
咨询工程师

信息概要

碳纳米管纱线纬向导电拉伸(ΔR/R₀≤5%,四探针法)是一种高性能导电材料,广泛应用于柔性电子、智能纺织、传感器等领域。该产品通过检测其电阻变化率(ΔR/R₀)来评估其导电性能的稳定性,确保其在拉伸条件下仍能保持优异的导电特性。检测的重要性在于验证材料的可靠性和耐久性,为实际应用提供数据支持,同时满足行业标准和质量控制要求。

检测项目

  • 电阻变化率(ΔR/R₀)
  • 导电性能
  • 拉伸强度
  • 断裂伸长率
  • 弹性模量
  • 纱线直径
  • 纱线密度
  • 纱线均匀性
  • 导电层厚度
  • 表面电阻
  • 体积电阻
  • 耐疲劳性能
  • 耐温性能
  • 耐湿性能
  • 耐化学腐蚀性能
  • 纱线捻度
  • 纱线强度
  • 导电稳定性
  • 纱线表面形貌
  • 纱线导电均匀性

检测范围

  • 单壁碳纳米管纱线
  • 多壁碳纳米管纱线
  • 纯碳纳米管纱线
  • 复合碳纳米管纱线
  • 柔性碳纳米管纱线
  • 高强碳纳米管纱线
  • 导电碳纳米管纱线
  • 功能性碳纳米管纱线
  • 涂层碳纳米管纱线
  • 改性碳纳米管纱线
  • 纳米纤维复合纱线
  • 金属复合碳纳米管纱线
  • 聚合物复合碳纳米管纱线
  • 定向排列碳纳米管纱线
  • 无序排列碳纳米管纱线
  • 高导电碳纳米管纱线
  • 低电阻碳纳米管纱线
  • 超细碳纳米管纱线
  • 多组分碳纳米管纱线
  • 功能性涂层碳纳米管纱线

检测方法

  • 四探针法:用于测量材料的电阻和电阻变化率
  • 拉伸测试法:评估材料的拉伸强度和断裂伸长率
  • 扫描电子显微镜(SEM):观察纱线表面形貌和结构
  • 透射电子显微镜(TEM):分析纱线内部微观结构
  • 热重分析法(TGA):测定材料的耐温性能
  • 动态机械分析(DMA):评估材料的弹性模量和耐疲劳性能
  • 电阻率测试法:测量材料的导电性能
  • 紫外-可见分光光度法(UV-Vis):分析材料的吸光特性
  • X射线衍射(XRD):确定材料的晶体结构
  • 傅里叶变换红外光谱(FTIR):分析材料的化学组成
  • 拉曼光谱法:评估碳纳米管的结构和缺陷
  • 原子力显微镜(AFM):观察材料的表面形貌和粗糙度
  • 电化学阻抗谱(EIS):测量材料的导电稳定性
  • 湿度循环测试:评估材料的耐湿性能
  • 化学腐蚀测试:测定材料的耐化学腐蚀性能

检测仪器

  • 四探针电阻测试仪
  • 电子万能材料试验机
  • 扫描电子显微镜(SEM)
  • 透射电子显微镜(TEM)
  • 热重分析仪(TGA)
  • 动态机械分析仪(DMA)
  • 电阻率测试仪
  • 紫外-可见分光光度计
  • X射线衍射仪(XRD)
  • 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)
  • 拉曼光谱仪
  • 原子力显微镜(AFM)
  • 电化学项目合作单位
  • 恒温恒湿试验箱
  • 化学腐蚀测试仪

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