GB/T17574.3集成电路漏电实验

信息概要

GB/T17574.3标准主要针对集成电路漏电实验的检测要求，确保集成电路在正常工作条件下的漏电性能符合行业规范。漏电检测是评估集成电路可靠性和安全性的重要环节，能够有效预防因漏电导致的电路失效、功耗增加或设备损坏等问题。第三方检测机构通过的技术手段，为客户提供全面的漏电实验服务，确保产品符合国家标准和行业需求。

检测项目

• 静态漏电流测试
• 动态漏电流测试
• 电源漏电流测试
• 输入引脚漏电流测试
• 输出引脚漏电流测试
• 高温漏电流测试
• 低温漏电流测试
• 工作电压范围内的漏电流测试
• 待机模式漏电流测试
• 休眠模式漏电流测试
• 不同负载条件下的漏电流测试
• 漏电流随时间变化测试
• 漏电流与温度关系测试
• 漏电流与湿度关系测试
• 漏电流与电压波动关系测试
• 漏电流与频率关系测试
• 漏电流与工艺偏差关系测试
• 漏电流与封装类型关系测试
• 漏电流与老化程度关系测试
• 漏电流与电磁干扰关系测试

检测范围

• 数字集成电路
• 模拟集成电路
• 混合信号集成电路
• 微处理器
• 存储器芯片
• 电源管理芯片
• 射频集成电路
• 传感器集成电路
• 通信芯片
• 逻辑门电路
• 放大器集成电路
• 时钟电路
• 数据转换器
• 接口芯片
• 驱动芯片
• 可编程逻辑器件
• 专用集成电路
• 光电集成电路
• 功率集成电路
• 嵌入式系统芯片

检测方法

• 恒压法：通过施加恒定电压测量漏电流
• 恒流法：通过施加恒定电流测量电压变化
• 温度循环法：在不同温度条件下测试漏电流
• 湿度循环法：在不同湿度条件下测试漏电流
• 电压扫描法：逐步改变电压并记录漏电流
• 时间域分析法：监测漏电流随时间的变化
• 频率响应法：测试漏电流与频率的关系
• 负载变化法：在不同负载条件下测量漏电流
• 老化测试法：模拟长期使用后的漏电流变化
• 封装应力测试法：评估封装对漏电流的影响
• 电磁干扰测试法：测试电磁场对漏电流的影响
• 工艺偏差分析法：分析不同工艺条件下的漏电流差异
• 动态信号注入法：通过动态信号激励测试漏电流
• 静态功耗分析法：测量静态工作时的漏电流
• 模式切换测试法：在不同工作模式间切换测试漏电流

检测仪器

• 数字源表
• 半导体参数分析仪
• 高精度电流计
• 恒温恒湿箱
• 示波器
• 频谱分析仪
• 逻辑分析仪
• 信号发生器
• 阻抗分析仪
• 老化测试系统
• 电磁兼容测试仪
• 探针台
• 温度控制平台
• 电源供应器
• 数据采集卡

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