集成电路辐射发射实验

信息概要

集成电路辐射发射实验是评估集成电路在工作过程中产生的电磁辐射是否超出规定限值的重要测试项目。随着电子设备的广泛应用，集成电路的电磁兼容性（EMC）问题日益突出，辐射发射超标可能导致设备干扰其他电子系统或受到外部干扰，影响正常运行。第三方检测机构通过测试，确保集成电路符合国际标准（如CISPR、IEC等）和行业规范，为产品质量和市场准入提供技术支撑。

检测的重要性在于：避免因辐射干扰引发的设备故障，满足法规要求，提升产品竞争力，并降低因EMC问题导致的召回风险。本服务涵盖从设计验证到量产的全周期检测，为客户提供准确、可靠的测试数据和分析报告。

检测项目

• 辐射电场强度
• 辐射磁场强度
• 谐波电流发射
• 电压波动与闪烁
• 传导骚扰电压
• 辐射功率密度
• 瞬态脉冲抗扰度
• 静电放电抗扰度
• 射频场感应的传导骚扰
• 工频磁场抗扰度
• 脉冲磁场抗扰度
• 阻尼振荡磁场抗扰度
• 浪涌抗扰度
• 振铃波抗扰度
• 电压暂降与中断抗扰度
• 辐射骚扰功率
• 辐射窄带骚扰
• 辐射宽带骚扰
• 电源端传导骚扰
• 信号端传导骚扰

检测范围

• 数字集成电路
• 模拟集成电路
• 混合信号集成电路
• 微处理器
• 存储器芯片
• 电源管理IC
• 射频集成电路
• 传感器接口IC
• 通信芯片
• 汽车电子IC
• 工业控制IC
• 消费类电子IC
• 医疗电子IC
• 航空航天用IC
• 可编程逻辑器件
• 时钟发生器IC
• 数据转换器
• 放大器IC
• 接口驱动IC
• 光电集成电路

检测方法

• 开阔场测试法：在标准开阔场中测量辐射发射
• 屏蔽室测试法：在电磁屏蔽环境中进行准确测试
• TEM小室法：利用横电磁波室评估辐射特性
• GTEM小室法：采用吉赫兹横电磁波室进行高频测试
• 电流探头法：通过感应电流测量传导骚扰
• 电压探头法：直接检测电路节点电压噪声
• 替代法：用已知信号替代被测设备辐射进行校准
• 扫描法：对频段进行扫描以捕捉最大辐射点
• 峰值检波法：快速捕捉辐射信号的峰值
• 准峰值检波法：评估脉冲骚扰的主观干扰度
• 平均值检波法：测量信号的长期平均强度
• 脉冲响应法：分析设备对瞬态脉冲的辐射特性
• 频谱分析法：通过频谱仪分析辐射频谱分布
• 时域分析法：在时域内观测辐射信号的波形
• 近场扫描法：通过近场探头定位辐射源位置

检测仪器

• 频谱分析仪
• 电磁干扰接收机
• 天线阵列
• 电流探头
• 电压探头
• 近场探头
• TEM小室
• GTEM小室
• 屏蔽室
• 信号发生器
• 功率放大器
• 示波器
• 静电放电模拟器
• 浪涌发生器
• 脉冲群发生器

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