固态电池锂铟负极过放界面空洞化观测

信息概要

固态电池锂铟负极过放界面空洞化观测是针对固态电池在过放电条件下锂铟负极界面结构变化的专项检测服务。该检测通过分析界面空洞化的形成机制、分布特征及对电池性能的影响，为固态电池的研发和质量控制提供关键数据支持。

检测的重要性在于：界面空洞化会导致电池内阻增大、循环寿命缩短甚至热失控风险，准确观测和评估该现象对优化电池材料体系、改进工艺设计及提升安全性具有重要意义。本检测服务可覆盖从实验室样品到量产产品的全周期需求。

检测项目

• 界面空洞密度分布
• 空洞平均直径统计
• 空洞深度剖面分析
• 锂铟合金相变程度
• 界面层厚度变化率
• 元素偏析特征
• 界面阻抗谱测试
• 循环伏安特性
• 恒流充放电容量衰减
• 过放前后形貌对比
• 三维重构空洞网络
• 界面结合力测试
• X射线衍射相分析
• 俄歇电子能谱分析
• 热重-差热联合分析
• 原位X射线光电子能谱
• 电子背散射衍射取向分析
• 聚焦离子束断层扫描
• 原子力显微镜表面粗糙度
• 同步辐射微区CT成像

检测范围

• 硫化物基固态电池
• 氧化物基固态电池
• 聚合物基固态电池
• 薄膜型固态电池
• 叠层式固态电池
• 柔性固态电池
• 高镍正极体系电池
• 硅碳复合负极电池
• 锂金属负极电池
• 准固态电解质电池
• 全固态扣式电池
• 圆柱型固态电池
• 软包固态电池
• 高压复合固态电池
• 低温型固态电池
• 快充型固态电池
• 高能量密度固态电池
• 微型固态储能器件
• 固态动力电池组
• 固态航空电池

检测方法

• 扫描电子显微镜(SEM) - 表面形貌及截面分析
• 透射电子显微镜(TEM) - 纳米级结构表征
• X射线光电子能谱(XPS) - 表面化学状态分析
• 聚焦离子束(FIB) - 三维断层重构
• 原子力显微镜(AFM) - 表面拓扑测量
• 电化学阻抗谱(EIS) - 界面阻抗测试
• 同步辐射X射线断层扫描 - 无损三维成像
• 二次离子质谱(SIMS) - 元素深度剖析
• 纳米压痕测试 - 界面机械性能评估
• 拉曼光谱 - 应力分布检测
• X射线衍射(XRD) - 晶体结构分析
• 热分析(DSC/TGA) - 相变温度测定
• 原位光学显微镜 - 动态过程观测
• 电子背散射衍射(EBSD) - 晶界取向分析
• 共聚焦激光显微镜 - 三维形貌重建

检测仪器

• 场发射扫描电子显微镜
• 高分辨透射电子显微镜
• X射线光电子能谱仪
• 双束聚焦离子束系统
• 原子力显微镜
• 电化学项目合作单位
• 同步辐射光源装置
• 二次离子质谱仪
• 纳米压痕仪
• 共聚焦拉曼光谱仪
• X射线衍射仪
• 差示扫描量热仪
• 热重分析仪
• 原位电化学测试平台
• 电子背散射衍射系统

了解中析

实验室仪器

合作客户