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硅钢片铁损检测

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咨询量:  
更新时间:2025-06-27  /
咨询工程师

信息概要

硅钢片铁损检测是评估硅钢片材料性能的重要环节,主要用于衡量其在交变磁场中的能量损耗。铁损直接影响电机、变压器等电力设备的效率和能耗,因此检测对于产品质量控制、能效优化及行业标准符合性至关重要。第三方检测机构通过设备与方法,为客户提供精准、可靠的铁损数据,助力企业提升产品竞争力。

检测项目

  • 铁损值(P1.5/50)
  • 铁损值(P1.7/50)
  • 磁感应强度(B50)
  • 磁感应强度(B100)
  • 矫顽力(Hc)
  • 磁滞损耗
  • 涡流损耗
  • 比总损耗
  • 叠装系数
  • 表面绝缘电阻
  • 涂层厚度
  • 涂层附着性
  • 材料密度
  • 晶粒取向度
  • 残余应力
  • 硬度(HV)
  • 厚度偏差
  • 宽度偏差
  • 长度偏差
  • 表面粗糙度

检测范围

  • 冷轧无取向硅钢片
  • 冷轧取向硅钢片
  • 高磁感取向硅钢片
  • 低铁损无取向硅钢片
  • 中频用硅钢片
  • 高频用硅钢片
  • 薄规格硅钢片
  • 厚规格硅钢片
  • 半工艺硅钢片
  • 全工艺硅钢片
  • 无涂层硅钢片
  • 无机涂层硅钢片
  • 有机涂层硅钢片
  • 高硅含量硅钢片
  • 低硅含量硅钢片
  • 纳米晶硅钢片
  • 非晶硅钢片
  • 电机用硅钢片
  • 变压器用硅钢片
  • 电抗器用硅钢片

检测方法

  • 爱泼斯坦方圈法:通过标准方圈测量硅钢片在交变磁场中的铁损
  • 单片测试法:利用单片磁导计直接测定样品磁性能
  • 磁滞回线法:分析材料磁化过程中的能量损耗
  • 涡流检测法:评估材料内部涡流导致的能量损失
  • X射线衍射法:测定晶粒取向及残余应力
  • 金相分析法:观察材料微观组织结构
  • 涂层测厚仪法:测量绝缘涂层厚度
  • 划格法:测试涂层附着力
  • 四探针法:检测表面绝缘电阻
  • 激光散射法:分析表面粗糙度
  • 密度测量法:通过阿基米德原理计算材料密度
  • 硬度计压痕法:测定材料硬度值
  • 超声波测厚法:非接触式测量硅钢片厚度
  • 光谱分析法:检测材料化学成分
  • 尺寸公差测量法:使用千分尺等工具验证几何尺寸

检测仪器

  • 爱泼斯坦测试仪
  • 单片磁导计
  • 磁滞回线仪
  • 涡流检测仪
  • X射线衍射仪
  • 金相显微镜
  • 涂层测厚仪
  • 划格试验器
  • 四探针测试仪
  • 激光粗糙度仪
  • 电子天平
  • 显微硬度计
  • 超声波测厚仪
  • 光谱分析仪
  • 千分尺

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