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中析检测

激光粒度仪遮光率阈值检测

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更新时间:2025-06-27  /
咨询工程师

信息概要

激光粒度仪遮光率阈值检测是一种用于评估颗粒物料分散性和浓度的重要检测项目。该检测通过测量激光在颗粒悬浮液中的透光率变化,确定样品的遮光率阈值,从而反映颗粒的分布状态和稳定性。此项检测在化工、医药、食品、建材等领域具有广泛应用,对于产品质量控制、工艺优化及研发创新至关重要。通过精准的遮光率阈值检测,可确保颗粒体系的均匀性,避免因浓度过高或分散不均导致的生产缺陷。

检测项目

  • 遮光率阈值
  • 颗粒粒径分布
  • D10粒径
  • D50粒径
  • D90粒径
  • 比表面积
  • 颗粒浓度
  • 分散性指数
  • 悬浮液稳定性
  • 光学透明度
  • 散射强度
  • 折射率匹配度
  • 颗粒形貌分析
  • 团聚程度
  • 粒度分布宽度
  • Zeta电位
  • 沉降速率
  • 动态光散射参数
  • 激光衍射效率
  • 样品均匀性

检测范围

  • 纳米材料
  • 微米级粉体
  • 乳液
  • 悬浮液
  • 胶体溶液
  • 金属粉末
  • 陶瓷粉体
  • 药品颗粒
  • 食品添加剂
  • 颜料
  • 涂料
  • 水泥
  • 矿物颗粒
  • 聚合物微粒
  • 碳材料
  • 电池材料
  • 化妆品原料
  • 农药颗粒
  • 生物颗粒
  • 环境粉尘

检测方法

  • 激光衍射法:通过测量散射光角度分布计算颗粒尺寸
  • 动态光散射法:分析颗粒布朗运动导致的散射光波动
  • 静态光散射法:测量不同角度散射光强度确定粒径
  • 离心沉降法:利用离心力分离不同粒径颗粒
  • 电泳光散射法:结合电泳和光散射测量Zeta电位
  • 图像分析法:通过显微镜图像直接测量颗粒尺寸
  • 超声衰减法:利用超声波在悬浮液中的衰减特性
  • X射线小角散射:适用于纳米级颗粒的检测
  • 光子相关光谱法:测量散射光强度随时间的变化
  • 浊度法:通过悬浮液浊度评估颗粒浓度
  • 库尔特计数法:基于电阻变化原理的颗粒计数
  • 场流分级法:利用场流分离不同尺寸颗粒
  • 气溶胶粒径分析:适用于干燥粉末的检测
  • 沉降天平法:通过沉降速度计算颗粒尺寸
  • 纳米颗粒追踪分析:追踪单个颗粒的运动轨迹

检测仪器

  • 激光粒度分析仪
  • 动态光散射仪
  • 纳米粒度仪
  • Zeta电位分析仪
  • 超声粒度分析仪
  • 离心粒度分析仪
  • 图像分析系统
  • X射线衍射仪
  • 光子相关光谱仪
  • 库尔特计数器
  • 场流分级仪
  • 气溶胶粒径谱仪
  • 沉降天平
  • 纳米颗粒追踪仪
  • 浊度计

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