CNAS资质
CNAS资质
cma资质
CMA资质
iso认证
ISO体系
高新技术企业
高新技术企业
首页 检测项目 新闻动态 搜索一下
中析检测

芯片锡银焊球无铅焊接强度检测

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-06-26  /
咨询工程师

信息概要

芯片锡银焊球无铅焊接强度检测是电子制造行业中至关重要的质量控制环节。随着环保要求的提高,无铅焊接技术已成为主流,而锡银焊球因其优异的性能被广泛应用于芯片封装领域。焊接强度的检测直接关系到产品的可靠性和使用寿命,因此第三方检测机构提供的服务对确保产品质量具有重要意义。本检测服务涵盖焊接强度、微观结构、力学性能等多方面参数,为客户提供全面、准确的数据支持。

检测项目

  • 焊接抗拉强度
  • 焊接剪切强度
  • 焊点硬度
  • 焊接界面结合力
  • 焊球直径均匀性
  • 焊接孔隙率
  • 焊料合金成分分析
  • 焊接润湿性
  • 焊点微观结构分析
  • 焊接热疲劳性能
  • 焊接蠕变性能
  • 焊料熔点测定
  • 焊接电导率
  • 焊接热导率
  • 焊接残余应力分析
  • 焊点X射线检测
  • 焊接界面IMC层厚度
  • 焊料氧化程度
  • 焊接热循环性能
  • 焊点抗冲击性能

检测范围

  • BGA封装锡银焊球
  • CSP封装焊球
  • Flip Chip焊球
  • WLCSP焊球
  • PoP封装焊球
  • 3D IC封装焊球
  • FCBGA焊球
  • QFN封装焊球
  • LGA封装焊球
  • SiP封装焊球
  • MCM封装焊球
  • COB封装焊球
  • TSV封装焊球
  • FOWLP焊球
  • 2.5D封装焊球
  • 嵌入式封装焊球
  • 光电子封装焊球
  • MEMS封装焊球
  • 功率器件封装焊球
  • 射频器件封装焊球

检测方法

  • 拉伸试验法:测量焊点在拉伸状态下的最大承载能力
  • 剪切试验法:评估焊点在剪切力作用下的强度性能
  • 显微硬度测试:通过压痕法测定焊点的硬度值
  • 金相分析法:观察焊接界面的微观组织结构
  • X射线检测法:无损检测焊点内部缺陷和孔隙分布
  • 扫描电镜分析:高倍率观察焊点表面形貌和微观结构
  • 能谱分析:测定焊料合金元素的成分和分布
  • 热机械分析:评估焊料在温度变化下的力学性能
  • 差示扫描量热法:测定焊料的熔点和相变温度
  • 四点探针法:测量焊点的电导率性能
  • 激光闪光法:测定焊料的热扩散系数
  • X射线衍射法:分析焊点残余应力状态
  • 超声波检测:无损评估焊点内部质量和结合状态
  • 热循环试验:模拟实际使用环境下的可靠性
  • 振动疲劳测试:评估焊点在动态载荷下的耐久性

检测仪器

  • 万能材料试验机
  • 显微硬度计
  • 金相显微镜
  • X射线检测系统
  • 扫描电子显微镜
  • 能谱分析仪
  • 热机械分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 四点探针测试仪
  • 激光闪光导热仪
  • X射线衍射仪
  • 超声波探伤仪
  • 热循环试验箱
  • 振动测试台
  • 红外热像仪

了解中析

我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力

实验室仪器

合作客户

我们的实力

推荐相关阅读
中析研究所第三方检测机构,国家高新技术企业,主要为政府部门、事业单位、企业公司以及大学高校提供检测分析鉴定服务!
研究所仪器 | 研究所动态 | 检测项目 | 化工资讯

【地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121】,【山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼】,【邮箱地址:010@yjsyi.com】

https://www.bjhgyjs.com Copyright © 2024 All Rights Reserved-检测机构-搜索一下-网站地图 - 免责声明

版权所有:北京中科光析科学技术研究所-【投诉举报】010-82491398  备案信息:京ICP备15067471号-34京公网安备 11010802035695号