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中析检测

导电膏热老化失效测试

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咨询量:  
更新时间:2025-06-25  /
咨询工程师

信息概要

导电膏热老化失效测试是针对导电膏产品在高温环境下性能变化的关键检测项目。导电膏广泛应用于电子元器件、电路连接等领域,其热稳定性直接影响设备的可靠性和使用寿命。通过模拟高温老化环境,检测导电膏的电阻率、粘附性等参数变化,可评估其在实际应用中的耐久性。该测试对保障产品质量、优化配方设计及避免潜在失效风险具有重要意义。

检测项目

  • 初始电阻率
  • 热老化后电阻率变化率
  • 粘附强度
  • 热失重率
  • 体积收缩率
  • 硬度变化
  • 导热系数
  • 耐电压击穿强度
  • 表面氧化程度
  • 成分析出物分析
  • 热膨胀系数
  • 界面接触电阻
  • 高温蠕变性能
  • 热循环稳定性
  • 挥发物含量
  • 微观形貌变化
  • 化学稳定性
  • 固化时间
  • 耐湿热性能
  • 低温脆性

检测范围

  • 银系导电膏
  • 铜系导电膏
  • 碳系导电膏
  • 镍系导电膏
  • 石墨烯导电膏
  • 纳米银导电膏
  • 环氧树脂基导电膏
  • 硅胶基导电膏
  • 聚氨酯基导电膏
  • 低温固化导电膏
  • 高温固化导电膏
  • 柔性电路用导电膏
  • 光伏组件用导电膏
  • LED封装导电膏
  • PCB板修复导电膏
  • 导电胶带配套膏体
  • 传感器电极导电膏
  • 射频屏蔽导电膏
  • 医疗设备专用导电膏
  • 汽车电子导电膏

检测方法

  • 热重分析法(TGA):测量材料在升温过程中的质量变化
  • 差示扫描量热法(DSC):分析材料相变及热焓变化
  • 四探针电阻测试法:准确测定体积电阻率
  • 扫描电子显微镜(SEM):观察微观结构演变
  • 红外光谱分析(FTIR):检测化学键变化
  • 热机械分析(TMA):测量热膨胀行为
  • 动态机械分析(DMA):评估粘弹性变化
  • X射线衍射(XRD):分析晶体结构变化
  • 加速老化试验:模拟长期热老化过程
  • 接触角测试:评估表面能变化
  • 拉力试验机测试:量化粘接强度
  • 介电常数测试:检测绝缘性能变化
  • 热导率测试仪:测定导热性能
  • 气相色谱-质谱联用(GC-MS):分析挥发成分
  • 电化学阻抗谱(EIS):评估界面特性

检测仪器

  • 高温老化试验箱
  • 四探针电阻测试仪
  • 热重分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 扫描电子显微镜
  • 傅里叶红外光谱仪
  • 热机械分析仪
  • X射线衍射仪
  • 动态机械分析仪
  • 拉力试验机
  • 介电常数测试仪
  • 热导率测试仪
  • 气相色谱-质谱联用仪
  • 电化学项目合作单位
  • 接触角测量仪

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