印制电路板铜导线电化学迁移

信息概要

印制电路板铜导线电化学迁移是电子行业中常见的失效模式之一，主要指在潮湿环境和电场作用下，铜离子发生迁移并形成导电通路，导致电路短路或性能下降。第三方检测机构提供的检测服务，帮助客户评估产品可靠性，确保符合行业标准。检测的重要性在于提前发现潜在风险，提升产品寿命和安全性，避免因电化学迁移引发的重大损失。

检测项目

• 铜离子迁移速率
• 绝缘电阻变化率
• 表面离子污染浓度
• 电化学迁移阈值电压
• 迁移路径形貌分析
• 湿热老化后性能变化
• 盐雾试验后迁移情况
• 温度循环对迁移的影响
• 电压梯度敏感性
• 介质材料吸湿性
• 铜导线腐蚀程度
• 枝晶生长长度测量
• 迁移产物的元素组成
• 绝缘层介电强度
• 环境湿度敏感性
• 电流泄漏测试
• 表面粗糙度对迁移的影响
• 助焊剂残留物检测
• 镀层厚度均匀性
• 长期存储稳定性评估

检测范围

• 刚性印制电路板
• 柔性印制电路板
• 高密度互连板
• 多层电路板
• 高频电路板
• 铝基覆铜板
• 陶瓷基电路板
• 金属基复合材料板
• 可穿戴电子用电路板
• 汽车电子电路板
• 航空航天用电路板
• 医疗设备电路板
• 消费电子电路板
• 工业控制电路板
• LED照明电路板
• 电源模块电路板
• 通信设备电路板
• 传感器用电路板
• 嵌入式系统电路板
• 射频识别电路板

检测方法

• 离子色谱法：测定表面离子污染物含量
• 扫描电子显微镜：观察迁移路径微观形貌
• 能谱分析：鉴定迁移产物的元素组成
• 湿热试验：模拟高湿环境下的迁移行为
• 盐雾试验：评估腐蚀性环境的影响
• 温度循环试验：测试热应力作用下的稳定性
• 绝缘电阻测试：监测介质材料的绝缘性能
• 四探针法：测量导线电阻变化
• 电化学阻抗谱：分析界面反应特性
• X射线光电子能谱：检测表面化学状态
• 红外光谱：识别有机污染物种类
• 激光共聚焦显微镜：测量三维形貌特征
• 加速老化试验：预测长期使用性能
• 漏电流测试：评估绝缘失效风险
• 热重分析：测定材料的热稳定性

检测仪器

• 扫描电子显微镜
• 能谱仪
• 离子色谱仪
• 高阻计
• 盐雾试验箱
• 恒温恒湿箱
• 温度循环试验箱
• 四探针测试仪
• 电化学项目合作单位
• X射线衍射仪
• 红外光谱仪
• 激光共聚焦显微镜
• 热重分析仪
• 漏电流测试仪
• 表面粗糙度测试仪