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中析检测

低温(-20℃)过充析锂敏感性检测

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更新时间:2025-06-23  /
咨询工程师

信息概要

低温(-20℃)过充析锂敏感性检测是针对锂电池在极端低温环境下过充电时析出金属锂的倾向性进行评估的检测服务。该检测通过模拟低温过充条件,评估电池的安全性能和材料稳定性,为电池设计、生产及应用提供关键数据支持。

锂电池在低温环境下过充电时,电解液导电性下降、锂离子迁移速率降低,极易在负极表面形成锂枝晶,引发短路甚至热失控。本检测可有效识别电池析锂风险,对提升电动汽车、储能系统等低温场景下的安全性具有重要意义。

检测项目

  • 低温过充循环容量衰减率
  • 负极表面锂沉积形貌分析
  • 过充电终止电压阈值
  • 电解液低温粘度变化率
  • SEI膜阻抗变化
  • 锂枝晶生长速率
  • 热失控触发温度
  • 充电极化电压差值
  • 负极锂金属含量检测
  • 正极材料结构稳定性
  • 隔膜穿刺强度变化
  • 气体产生组分分析
  • 低温DCIR变化率
  • 库伦效率衰减曲线
  • 膨胀力变化监测
  • 内部短路信号捕捉
  • 微观结构SEM观测
  • XRD相变分析
  • DSC热特性检测
  • 三电极体系电位分布

检测范围

  • 磷酸铁锂电池
  • 三元锂电池
  • 钴酸锂电池
  • 锰酸锂电池
  • 钛酸锂电池
  • 固态锂电池
  • 聚合物锂电池
  • 18650圆柱电池
  • 21700圆柱电池
  • 软包电池
  • 方形铝壳电池
  • 动力电池组
  • 储能电池系统
  • 启停电池
  • 低温特种电池
  • 高镍体系电池
  • 硅碳负极电池
  • 锂硫电池
  • 钠离子电池
  • 刀片电池

检测方法

  • 低温充放电测试法:在-20℃环境下进行阶梯式过充测试
  • 扫描电子显微镜法:观察负极表面锂沉积形貌
  • 电化学阻抗谱法:分析SEI膜及电荷转移阻抗变化
  • 差示扫描量热法:检测析锂反应放热特性
  • X射线衍射法:监测电极材料相变行为
  • 气相色谱法:定量分析产气组分及含量
  • 三电极测试法:分离正负极极化电压
  • 超声扫描成像法:检测电池内部结构变化
  • 红外热成像法:捕捉局部过热点位
  • 原子吸收光谱法:定量测定析锂量
  • 同步辐射原位观测法:实时监测锂枝晶生长
  • 压力传感器监测法:记录电池膨胀力变化
  • 声发射检测法:捕捉锂枝晶穿刺信号
  • 循环伏安法:评估电极反应可逆性
  • 恒电流间歇滴定法:计算锂离子扩散系数

检测仪器

  • 高低温试验箱
  • 电池充放电测试系统
  • 扫描电子显微镜
  • 电化学项目合作单位
  • 差示扫描量热仪
  • X射线衍射仪
  • 气相色谱质谱联用仪
  • 三电极测试装置
  • 超声扫描显微镜
  • 红外热像仪
  • 原子吸收光谱仪
  • 同步辐射光源装置
  • 压力分布测试系统
  • 声发射传感器
  • 激光共聚焦显微镜

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