原位观测（EC-AFM/SVET）

信息概要

原位观测（EC-AFM/SVET）是一种结合电化学原子力显微镜（EC-AFM）和扫描振动电极技术（SVET）的高精度检测方法，用于实时监测材料表面在电化学环境中的微观形貌和局部电化学活性。

该技术广泛应用于腐蚀科学、能源材料、生物医学等领域，能够提供纳米级分辨率的表面形貌和局部电流密度分布信息，为材料性能评估和失效分析提供关键数据。

检测的重要性在于其能够揭示材料在真实工作环境中的动态行为，帮助优化材料设计、提高产品寿命，并为质量控制提供科学依据。

检测项目

• 表面形貌三维成像
• 局部电流密度分布
• 腐蚀电位测量
• 腐蚀电流密度测定
• 表面粗糙度分析
• 纳米级缺陷检测
• 钝化膜稳定性评估
• 电化学活性点定位
• 材料降解过程监测
• 涂层防护性能评价
• 应力腐蚀敏感性分析
• 微区电化学阻抗谱
• 表面电势分布
• 离子迁移行为观测
• 局部pH值变化监测
• 电化学噪声分析
• 钝化膜破裂电位测定
• 点蚀起始敏感性评估
• 电化学沉积过程监测
• 生物膜电活性分析

检测范围

• 金属及合金材料
• 防腐涂层
• 电池电极材料
• 燃料电池组件
• 太阳能电池材料
• 半导体材料
• 生物医用植入材料
• 电子封装材料
• 航空航天材料
• 海洋工程材料
• 石油管道材料
• 核电站结构材料
• 汽车车身材料
• 微电子器件
• 纳米功能材料
• 导电高分子材料
• 防腐添加剂
• 电镀层
• 化学转化膜
• 储能材料

检测方法

• 电化学原子力显微镜（EC-AFM）：在电化学环境下进行纳米级表面形貌成像
• 扫描振动电极技术（SVET）：测量局部电流密度分布
• 开路电位监测：记录材料在溶液中的自然电位变化
• 动电位极化：测定材料的腐蚀行为特征
• 电化学阻抗谱：分析界面电化学过程
• 局部电化学阻抗谱：微区界面特性表征
• 扫描开尔文探针：表面电势分布测量
• 电化学噪声分析：监测局部腐蚀活动
• 微区pH值测量：局部化学环境监测
• 原位拉曼光谱：表面化学组成变化分析
• 同步辐射X射线成像：三维结构演变观测
• 石英晶体微天平：表面质量变化监测
• 扫描电化学显微镜：局部电化学活性成像
• 光学显微镜原位观测：宏观形貌变化记录
• 红外热成像：局部温度场分布监测

检测仪器

• 电化学原子力显微镜
• 扫描振动电极系统
• 电化学项目合作单位
• 微区电化学测试系统
• 扫描开尔文探针
• 原位拉曼光谱仪
• 同步辐射光源
• 石英晶体微天平
• 扫描电化学显微镜
• 高分辨率光学显微镜
• 红外热像仪
• X射线光电子能谱仪
• 二次离子质谱仪
• 聚焦离子束系统
• 纳米压痕仪

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