芯片漏电流检测

信息概要

芯片漏电流检测是半导体行业中一项至关重要的测试服务，主要用于评估芯片在静态或动态工作状态下的漏电流特性。漏电流是芯片功耗和可靠性的关键指标，过高的漏电流可能导致芯片发热、性能下降甚至早期失效。第三方检测机构通过设备和标准化流程，为客户提供精准的漏电流检测服务，帮助优化芯片设计、提升产品质量并满足行业标准。

检测范围涵盖各类集成电路芯片，包括但不限于逻辑芯片、存储器、模拟芯片等。通过全面的漏电流参数测试，客户可以快速定位设计或制造缺陷，降低量产风险，确保芯片在终端应用中的稳定性和能效。

检测项目

• 静态漏电流测试
• 动态漏电流测试
• 栅极漏电流
• 源极漏电流
• 漏极漏电流
• 衬底漏电流
• 待机模式漏电流
• 工作模式漏电流
• 温度依赖性漏电流
• 电压依赖性漏电流
• 工艺角漏电流分析
• 晶体管级漏电流分布
• 模块级漏电流汇总
• 电源域漏电流隔离
• 休眠模式漏电流
• 唤醒过程漏电流瞬态
• 老化后漏电流变化率
• 不同频率下的漏电流特性
• 封装应力对漏电流的影响
• 环境湿度对漏电流的影响

检测范围

• 逻辑芯片
• 存储器芯片
• 模拟芯片
• 混合信号芯片
• 射频芯片
• 传感器芯片
• 电源管理芯片
• 微控制器
• 数字信号处理器
• 现场可编程门阵列
• 专用集成电路
• 系统级芯片
• 光电子芯片
• 功率半导体器件
• 生物芯片
• 汽车电子芯片
• 人工智能加速器
• 通信基带芯片
• 图像传感器
• 安全加密芯片

检测方法

• 直流参数测试法 - 通过精密电源和电流表测量静态漏电流
• 瞬态电流分析法 - 捕获芯片状态切换时的漏电流变化
• 温度扫描测试 - 在不同温度条件下监测漏电流漂移
• 电压斜坡测试 - 逐步改变供电电压观察漏电流响应
• 工艺角测试 - 在不同工艺偏差条件下验证漏电流边界
• 老化测试 - 通过加速老化评估漏电流的长期稳定性
• 芯片分区测试 - 对芯片不同功能区域进行独立漏电流测量
• 动态电源测试 - 在工作频率变化时监测漏电流特性
• 封装级测试 - 评估封装应力对芯片漏电流的影响
• 湿度环境测试 - 在可控湿度条件下测量漏电流变化
• 辐射测试 - 分析辐射环境对半导体漏电流的影响
• 噪声叠加测试 - 在电源噪声环境下测量漏电流稳定性
• 多站点并行测试 - 同时测量芯片多个测试点的漏电流
• 失效分析测试 - 对异常漏电流样本进行物理和电气分析
• 仿真对比测试 - 将实测数据与仿真结果进行对比验证

检测仪器

• 半导体参数分析仪
• 精密源测量单元
• 高精度电流表
• 温度控制测试台
• 探针台
• 自动测试设备
• 示波器
• 逻辑分析仪
• 频谱分析仪
• 环境试验箱
• 老化测试系统
• 晶圆级测试系统
• 封装级测试夹具
• 红外热像仪
• 电子显微镜

了解中析

实验室仪器

合作客户