色谱柱母粒惰性表面测试
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信息概要
色谱柱母粒惰性表面测试是一项针对色谱柱核心材料表面性能的检测服务。色谱柱作为液相色谱(HPLC)和气相色谱(GC)等分析技术的核心部件,其母粒表面的惰性直接影响分离效果、重现性和使用寿命。通过科学的检测手段评估表面惰性,可确保色谱柱在复杂样品分析中避免吸附、拖尾或活性位点干扰,从而提升数据准确性与可靠性。第三方检测机构通过标准化流程,为客户提供全面的性能验证报告,助力产品质量控制与研发优化。
检测项目
- 表面接触角
- 表面能
- 化学残留物
- 孔径分布均匀性
- 比表面积
- 表面粗糙度
- 金属离子含量
- 有机污染物
- pH耐受性
- 耐溶剂腐蚀性
- 热稳定性
- 机械强度
- 吸附活性位点密度
- 疏水性/亲水性平衡
- 批次间一致性
- 表面官能团分布
- 硅羟基覆盖率
- 碳载量均匀性
- 色谱柱柱效测试
- 不对称因子
检测范围
- 反相色谱柱母粒
- 正相色谱柱母粒
- 离子交换色谱柱母粒
- 亲和色谱柱母粒
- 手性分离色谱柱母粒
- 尺寸排阻色谱柱母粒
- HILIC色谱柱母粒
- monolithic整体柱母粒
- 核壳型色谱柱母粒
- 杂化颗粒色谱柱母粒
- 二氧化硅基色谱柱母粒
- 聚合物基色谱柱母粒
- 石墨化碳色谱柱母粒
- 金属氧化物涂层色谱柱母粒
- 表面修饰氨基色谱柱母粒
- 表面修饰C18色谱柱母粒
- 表面修饰苯基色谱柱母粒
- 表面修饰氰基色谱柱母粒
- 表面修饰二醇基色谱柱母粒
- 温敏型色谱柱母粒
检测方法
- 静态接触角测量法(评估表面润湿性)
- X射线光电子能谱(XPS)(表面元素分析)
- 傅里叶变换红外光谱(FTIR)(官能团鉴定)
- 氮气吸附-脱附法(BET比表面积测试)
- 扫描电子显微镜(SEM)(表面形貌观察)
- 原子力显微镜(AFM)(纳米级粗糙度测量)
- 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)(痕量金属检测)
- 液相色谱法(HPLC)(功能性验证)
- 热重分析(TGA)(热稳定性评估)
- 动态光散射(DLS)(粒径分布检测)
- zeta电位测试(表面电荷特性)
- 加速溶剂萃取(ASE)(残留物提取)
- 气相色谱-质谱联用(GC-MS)(有机污染物分析)
- 酸碱滴定法(表面活性位点定量)
- 色谱柱效测试法(理论塔板数测定)
检测仪器
- 接触角测量仪
- X射线光电子能谱仪
- 傅里叶变换红外光谱仪
- 比表面积及孔隙度分析仪
- 扫描电子显微镜
- 原子力显微镜
- 电感耦合等离子体质谱仪
- 液相色谱仪
- 热重分析仪
- 动态光散射仪
- zeta电位分析仪
- 加速溶剂萃取仪
- 气相色谱-质谱联用仪
- 自动滴定仪
- 色谱柱测试系统
了解中析