微探针点测服务

信息概要

微探针点测服务是一种高精度的材料表面成分分析技术，通过微米级探针对样品进行局部检测，广泛应用于半导体、金属、陶瓷等材料的成分分析和缺陷检测。该服务能够快速、准确地提供样品的元素组成、分布及含量信息，对于产品质量控制、工艺优化及失效分析具有重要意义。

检测的重要性在于确保材料的性能符合设计要求，避免因成分偏差或污染导致的产品失效。通过微探针点测服务，可以及时发现生产过程中的问题，提高产品良率，降低生产成本。

微探针点测服务适用于多种材料的检测，包括但不限于金属合金、电子元器件、涂层材料等。检测结果可为研发、生产及质量控制提供可靠的数据支持。

检测项目

• 元素成分分析
• 元素分布 mapping
• 表面污染检测
• 氧化物厚度测量
• 晶格缺陷分析
• 掺杂浓度测定
• 界面扩散分析
• 微观形貌观察
• 相组成分析
• 元素价态分析
• 应力分布测量
• 晶粒尺寸测定
• 薄膜厚度测量
• 杂质含量测定
• 腐蚀产物分析
• 焊接界面分析
• 涂层成分分析
• 元素偏析分析
• 微观硬度测试
• 导电性能测试

检测范围

• 半导体材料
• 金属合金
• 陶瓷材料
• 电子元器件
• 涂层材料
• 复合材料
• 纳米材料
• 光伏材料
• 磁性材料
• 超导材料
• 生物材料
• 聚合物材料
• 玻璃材料
• 矿物材料
• 催化剂材料
• 电池材料
• 焊接材料
• 薄膜材料
• 纤维材料
• 粉末材料

检测方法

• 能量色散X射线光谱法（EDS）：通过X射线能谱分析元素成分
• 波长色散X射线光谱法（WDS）：高分辨率元素分析
• 电子背散射衍射（EBSD）：晶体结构分析
• 二次离子质谱（SIMS）：表面元素深度分析
• 俄歇电子能谱（AES）：表面元素价态分析
• X射线光电子能谱（XPS）：表面化学状态分析
• 原子力显微镜（AFM）：表面形貌观察
• 扫描电子显微镜（SEM）：微观形貌观察
• 透射电子显微镜（TEM）：纳米级结构分析
• X射线衍射（XRD）：物相分析
• 拉曼光谱（Raman）：分子结构分析
• 傅里叶变换红外光谱（FTIR）：化学键分析
• 辉光放电光谱（GDS）：深度成分分析
• 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：痕量元素分析
• 激光共聚焦显微镜（CLSM）：三维形貌观察

检测仪器

• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• X射线能谱仪
• 波长色散光谱仪
• 电子背散射衍射仪
• 二次离子质谱仪
• 俄歇电子能谱仪
• X射线光电子能谱仪
• 原子力显微镜
• X射线衍射仪
• 拉曼光谱仪
• 傅里叶变换红外光谱仪
• 辉光放电光谱仪
• 电感耦合等离子体质谱仪
• 激光共聚焦显微镜

了解中析

实验室仪器

合作客户