锡须生长实验

信息概要

锡须生长实验是评估电子元器件及材料在特定环境下锡须生成倾向的重要测试项目。锡须可能引发短路、信号干扰等可靠性问题，因此检测对于确保电子产品的长期稳定性和安全性至关重要。本检测服务通过设备和标准化方法，为客户提供锡须生长的定量与定性分析。

检测项目

• 锡须长度测量
• 锡须密度统计
• 生长速率分析
• 表面形貌观察
• 晶体结构表征
• 环境温度影响评估
• 湿度敏感性测试
• 机械应力影响分析
• 电迁移效应检测
• 镀层厚度相关性
• 基材兼容性验证
• 加速老化实验
• 化学成分检测
• 氧化层厚度测量
• 微观硬度测试
• 热循环耐受性
• 振动环境模拟
• 电磁场影响评估
• 盐雾腐蚀测试
• 长期稳定性监测

检测范围

• 电子元器件引脚
• PCB表面处理层
• 焊锡合金材料
• 半导体封装材料
• 导电胶粘合剂
• 镀锡铜线
• 锡基焊膏
• 电子连接器
• 金属化陶瓷基板
• 柔性电路板
• 锡镀层钢带
• 电子屏蔽材料
• 锡合金涂层
• 电子封装外壳
• 锡晶须抑制材料
• 无铅焊料
• 锡银铜合金
• 电子触点材料
• 锡铋合金镀层
• 电子散热材料

检测方法

• 扫描电子显微镜（SEM）观察表面形貌
• 能谱分析（EDS）测定元素组成
• X射线衍射（XRD）分析晶体结构
• 光学显微镜测量锡须长度
• 恒温恒湿箱加速老化
• 热循环试验箱模拟温度变化
• 振动台测试机械应力影响
• 盐雾试验箱评估腐蚀性能
• 轮廓仪测量表面粗糙度
• 显微硬度计测试材料硬度
• 四探针法检测镀层电阻
• 聚焦离子束（FIB）截面分析
• 红外热像仪监测温度分布
• 电化学项目合作单位评估腐蚀倾向
• 原子力显微镜（AFM）纳米级观测

检测仪器

• 扫描电子显微镜
• 能谱分析仪
• X射线衍射仪
• 高倍光学显微镜
• 恒温恒湿试验箱
• 热循环试验箱
• 电磁振动台
• 盐雾试验箱
• 表面轮廓仪
• 显微硬度计
• 四探针测试仪
• 聚焦离子束系统
• 红外热像仪
• 电化学项目合作单位
• 原子力显微镜

了解中析

实验室仪器

合作客户