阻抗谱（EIS）碰撞后SEI膜破损

信息概要

阻抗谱（EIS）碰撞后SEI膜破损检测是一项针对电池材料表面固态电解质界面膜（SEI膜）完整性的分析服务。SEI膜的破损会直接影响电池的性能和安全性，因此通过EIS技术检测其破损情况对于评估电池寿命、安全性和可靠性至关重要。本检测服务可广泛应用于各类电池材料的研发、生产和质量控制环节，为客户提供精准的数据支持和解决方案。

检测项目

• SEI膜阻抗值
• 电荷转移电阻
• 溶液电阻
• 膜电容
• 低频阻抗
• 高频阻抗
• 相位角
• 弛豫时间
• Nyquist图分析
• Bode图分析
• 膜破损程度
• 膜修复能力
• 界面稳定性
• 电化学活性面积
• 极化电阻
• 扩散阻抗
• 膜厚度变化
• 离子电导率
• 电子电导率
• 膜均匀性

检测范围

• 锂离子电池
• 钠离子电池
• 固态电池
• 磷酸铁锂电池
• 三元锂电池
• 钴酸锂电池
• 锰酸锂电池
• 钛酸锂电池
• 硅基负极电池
• 石墨负极电池
• 锂硫电池
• 锂空气电池
• 水系电池
• 聚合物电池
• 柔性电池
• 微型电池
• 高能量密度电池
• 快充电池
• 高温电池
• 低温电池

检测方法

• 电化学阻抗谱（EIS）：通过测量不同频率下的阻抗响应分析SEI膜特性
• 循环伏安法（CV）：评估SEI膜的电化学稳定性
• 恒电流充放电测试：检测SEI膜在充放电过程中的变化
• 扫描电子显微镜（SEM）：观察SEI膜表面形貌
• 透射电子显微镜（TEM）：分析SEI膜微观结构
• X射线光电子能谱（XPS）：测定SEI膜化学成分
• 原子力显微镜（AFM）：测量SEI膜表面粗糙度
• 傅里叶变换红外光谱（FTIR）：分析SEI膜官能团
• 拉曼光谱：检测SEI膜分子结构
• 热重分析（TGA）：评估SEI膜热稳定性
• 差示扫描量热法（DSC）：分析SEI膜相变行为
• 电化学石英晶体微天平（EQCM）：实时监测SEI膜质量变化
• 二次离子质谱（SIMS）：深度剖析SEI膜成分分布
• X射线衍射（XRD）：检测SEI膜晶体结构
• 电化学噪声分析：评估SEI膜局部腐蚀行为

检测仪器

• 电化学项目合作单位
• 阻抗分析仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• X射线光电子能谱仪
• 原子力显微镜
• 傅里叶变换红外光谱仪
• 拉曼光谱仪
• 热重分析仪
• 差示扫描量热仪
• 电化学石英晶体微天平
• 二次离子质谱仪
• X射线衍射仪
• 电池测试系统
• 恒温恒湿箱