贵金属杂质测试实验

信息概要

贵金属杂质测试实验是针对金、银、铂、钯等贵金属材料中微量或痕量杂质元素进行检测的服务。贵金属因其高价值与特殊性能，广泛应用于电子、珠宝、医疗及工业催化等领域，其纯度直接影响产品性能与安全性。通过精准检测杂质含量，可确保材料符合行业标准、国际法规及客户定制化需求，同时避免因杂质超标导致的质量缺陷或经济损失。

检测项目

• 金（Au）含量测定
• 银（Ag）杂质分析
• 铂（Pt）纯度检测
• 钯（Pd）杂质含量测定
• 铑（Rh）痕量分析
• 铱（Ir）元素检测
• 铜（Cu）杂质含量
• 铁（Fe）痕量检测
• 铅（Pb）重金属残留
• 镉（Cd）有害元素分析
• 镍（Ni）杂质测定
• 锌（Zn）含量检测
• 汞（Hg）痕量残留
• 砷（As）毒性元素检测
• 硒（Se）杂质分析
• 锡（Sn）含量测定
• 锑（Sb）痕量检测
• 铋（Bi）杂质分析
• 铬（Cr）元素含量
• 锰（Mn）痕量残留

检测范围

• 贵金属珠宝首饰
• 工业用贵金属催化剂
• 电子元器件镀层材料
• 牙科用贵金属合金
• 投资用金条与金币
• 贵金属回收废料
• 铂族金属复合材料
• 贵金属化学试剂
• 航空航天用贵金属部件
• 医疗器械涂层材料
• 贵金属纳米颗粒
• 光伏产业用银浆
• 燃料电池催化剂
• 贵金属薄膜材料
• 精密仪器触点材料
• 核工业用贵金属容器
• 贵金属电镀液
• 贵金属靶材
• 贵金属粉末冶金制品
• 贵金属陶瓷复合材料

检测方法

• 电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：多元素同时定量分析
• 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：超痕量元素检测
• X射线荧光光谱法（XRF）：快速无损成分筛查
• 火试金法（Fire Assay）：传统高精度贵金属分析
• 原子吸收光谱法（AAS）：特定元素精准测定
• 辉光放电质谱法（GD-MS）：固体样品深度分析
• 扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：微观成分表征
• 中子活化分析（NAA）：非破坏性痕量检测
• 库仑法（Coulometry）：电化学纯度测定
• 紫外可见分光光度法（UV-Vis）：特定化合物定量
• 激光诱导击穿光谱法（LIBS）：快速表面成分分析
• 热重分析法（TGA）：材料热稳定性评估
• 俄歇电子能谱（AES）：表面杂质分布检测
• 二次离子质谱（SIMS）：纳米级深度剖析
• 气相色谱-质谱联用（GC-MS）：有机杂质检测

检测仪器

• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 高分辨质谱仪
• X射线荧光光谱仪
• 原子吸收光谱仪
• 辉光放电质谱仪
• 扫描电子显微镜
• 热重分析仪
• 紫外可见分光光度计
• 中子活化分析装置
• 激光诱导击穿光谱仪
• 库仑滴定仪
• 俄歇电子能谱仪
• 二次离子质谱仪
• 气相色谱-质谱联用仪
• 火花直读光谱仪