MTBF（平均无故障时间）测试

信息概要

MTBF（平均无故障时间）测试是评估产品在特定条件下的可靠性及预期无故障运行时间的关键检测项目。该测试通过模拟实际使用环境中的应力条件，验证产品的设计质量与耐久性，为企业优化产品设计、提升市场竞争力提供数据支持。第三方检测机构通过设备和标准化流程，确保测试结果的客观性与性，帮助客户降低售后风险并满足行业合规要求。

检测项目

• 高温工作寿命测试
• 低温启动性能测试
• 温湿度循环测试
• 振动耐受性测试
• 冲击负荷测试
• 电源波动适应性测试
• 电磁兼容性测试
• 盐雾腐蚀测试
• 粉尘防护等级测试
• 防水性能测试
• 连续运行稳定性测试
• 热冲击恢复能力测试
• 元件老化速率分析
• 功耗波动监测
• 信号传输稳定性测试
• 材料热变形临界点测试
• 连接器插拔寿命测试
• 软件系统稳定性测试
• 电池循环寿命评估
• 故障模式与影响分析（FMEA）

检测范围

• 工业控制设备
• 网络通信设备
• 消费类电子产品
• 医疗电子仪器
• 汽车电子模块
• 航空航天电子系统
• 服务器及存储设备
• LED照明装置
• 电源适配器
• 光伏逆变器
• 智能家居设备
• 可穿戴电子设备
• 安防监控系统
• 轨道交通电子设备
• 工业机器人控制器
• 新能源充电桩
• 物联网终端设备
• 军用电子设备
• 半导体元器件
• 精密仪器仪表

检测方法

• 加速寿命试验（ALT） - 通过强化应力条件缩短测试周期
• 环境应力筛选（ESS） - 暴露潜在制造缺陷
• 步进应力测试 - 逐步增加应力水平直至失效
• 可靠性增长测试 - 结合改进措施迭代验证
• 失效物理分析 - 解析故障产生的根本原因
• 威布尔分布分析 - 建立故障概率模型
• 蒙特卡罗仿真 - 预测系统级可靠性
• 热成像扫描 - 检测温度分布异常
• 声发射检测 - 捕捉材料内部结构变化
• 红外光谱分析 - 监测材料降解过程
• 粒子碰撞噪声检测 - 评估密封器件完整性
• X射线检测 - 分析内部结构缺陷
• 电流-电压特性测试 - 验证半导体器件可靠性
• 振动频谱分析 - 识别机械共振点
• 腐蚀速率测定 - 量化环境耐受能力

检测仪器

• 高低温湿热试验箱
• 三综合试验系统
• 电磁振动台
• 盐雾试验机
• 红外热像仪
• 可编程电源供应器
• 数据采集系统
• 光谱分析仪
• 粒子计数器
• X射线检测仪
• 半导体参数分析仪
• 声学摄像机
• 多通道温度记录仪
• 静电放电发生器
• 机械冲击试验机

了解中析

实验室仪器

合作客户