电磁失效测试实验

信息概要

电磁失效测试实验是针对电子电气产品在电磁环境中的性能稳定性与合规性进行验证的关键检测项目。通过模拟真实电磁环境下的干扰和抗干扰能力，评估产品是否满足国际标准（如IEC、FCC、CISPR等）及行业规范要求。此类检测可有效预防因电磁干扰（EMI）或电磁敏感度（EMS）问题导致的产品功能失效、数据错误或安全隐患，是保障产品质量、市场准入和用户信赖的重要环节。

检测项目

• 辐射发射测试（RE）
• 传导发射测试（CE）
• 静电放电抗扰度测试（ESD）
• 射频电磁场辐射抗扰度测试（RS）
• 电快速瞬变脉冲群抗扰度测试（EFT）
• 浪涌抗扰度测试（Surge）
• 电压暂降与短时中断测试（DIP）
• 工频磁场抗扰度测试（PFMF）
• 谐波电流发射测试
• 电压波动与闪烁测试
• 射频传导抗扰度测试（CS）
• 磁场辐射抗扰度测试
• 电源端骚扰电压测试
• 信号端骚扰电压测试
• 电磁兼容性（EMC）预测试
• 电磁屏蔽效能测试
• 天线端口辐射杂散测试
• 自兼容性测试
• 电磁环境评估（E3）
• 雷击感应电压测试

检测范围

• 家用电器类
• 工业控制设备
• 汽车电子系统
• 医疗电子设备
• 信息技术设备（ITE）
• 无线通信设备
• LED照明产品
• 电力电子装置
• 航空航天电子设备
• 新能源设备（光伏/储能）
• 智能家居产品
• 安防监控设备
• 轨道交通电子系统
• 消费类电子产品
• 军用电子设备
• 物联网终端设备
• 服务器及数据中心设备
• 可穿戴设备
• 电动工具
• 电池管理系统（BMS）

检测方法

• 辐射发射测试（电波暗室法）
• 传导发射测试（LISN网络法）
• 静电放电模拟（接触/空气放电法）
• 脉冲群耦合去耦网络法
• 浪涌耦合去耦测试法
• 电压跌落模拟发生器法
• 磁场注入探头法
• 谐波分析（FFT算法）
• 天线校准法（标准场强比对）
• TEM小室法（近场辐射测试）
• 电流钳注入法
• 直接功率注入（DPI）法
• 混响室测试法
• 带状线测试法
• GTEM小室辐射测试法

检测仪器

• EMI接收机
• 频谱分析仪
• 静电放电模拟器
• 电快速瞬变脉冲发生器
• 浪涌发生器
• 射频信号发生器
• 功率放大器
• LISN（线路阻抗稳定网络）
• GTEM小室
• TEM小室
• 混响室
• 磁场探头组
• 电流钳
• 电压探头
• 天线阵列（双锥/对数周期/喇叭）