光学光子集成电路测试实验

信息概要

光学光子集成电路（Photonic Integrated Circuit, PIC）是一种通过集成光学元件与电子元件实现光信号处理的核心技术，广泛应用于通信、传感、量子计算等领域。第三方检测机构针对此类产品提供测试服务，确保其性能、可靠性与行业标准相符。检测服务涵盖设计验证、生产质量控制及失效分析，通过全面评估降低应用风险，助力企业提升产品竞争力。

检测项目

• 插入损耗测试
• 回波损耗测试
• 波长依赖性分析
• 偏振相关损耗测量
• 带宽与频率响应测试
• 耦合效率评估
• 光功率均匀性检测
• 调制深度分析
• 信噪比测试
• 温度稳定性验证
• 长期可靠性试验
• 环境应力筛选（ESS）
• 封装气密性测试
• 材料折射率一致性检测
• 电光转换效率测试
• 热阻与散热性能评估
• 光学串扰分析
• 芯片表面形貌检测
• 抗辐射性能测试
• 高频信号完整性验证

检测范围

• 硅基光子集成电路
• 磷化铟光子集成电路
• 氮化硅光子集成电路
• 混合集成光子芯片
• 电吸收调制激光器（EML）
• 马赫-曾德尔调制器（MZM）
• 阵列波导光栅（AWG）
• 光子晶体器件
• 光开关与路由器
• 可调谐激光器芯片
• 光电探测器阵列
• 量子光子处理器
• 光纤耦合型光子芯片
• 片上光谱分析模块
• 微波光子集成电路
• 光学传感器芯片
• 光学放大器集成模块
• 硅光收发器核心芯片
• 非线性光子器件
• 生物医学光子传感芯片

检测方法

• 光学时域反射法（OTDR）用于链路损耗定位
• 光谱分析法测量波长相关特性
• 偏振态扫描法评估偏振敏感性
• 矢量网络分析（VNA）测试高频响应
• 干涉测量法检测相位一致性
• 热成像技术分析散热分布
• 扫描电子显微镜（SEM）观察微观结构
• 原子力显微镜（AFM）检测表面粗糙度
• 加速寿命试验模拟长期老化
• 气密性氦质谱检漏法验证封装完整性
• 飞秒激光脉冲测试非线性效应
• 光电流谱法表征光电转换效率
• 近场扫描光学显微镜（NSOM）分析光场分布
• 拉曼光谱法检测材料成分
• 光波导模式仿真与实测对比验证

检测仪器

• 光谱分析仪
• 光波导耦合测试系统
• 矢量网络分析仪
• 高精度光学功率计
• 偏振控制器与分析仪
• 温度循环试验箱
• 扫描电子显微镜
• 原子力显微镜
• 飞秒激光器测试平台
• 光致发光检测仪
• 氦质谱检漏仪
• 热阻测试仪
• 高频示波器
• 光学参数测试仪（IL/RL测试系统）
• 近场光学成像系统