光学耦合测试实验

信息概要

光学耦合测试实验主要用于评估光电器件或光传输系统中光信号耦合效率及稳定性，涉及光纤、激光器、光模块等产品的性能验证。第三方检测机构通过测试服务，帮助企业确保产品符合行业标准及可靠性要求，优化设计并降低应用风险。检测的重要性在于保障光通信系统的传输质量、延长器件寿命，并满足国际认证需求。

检测项目

• 耦合效率
• 插入损耗
• 回波损耗
• 偏振相关损耗
• 波长依赖性
• 光束发散角
• 光斑尺寸
• 对准精度
• 温度循环稳定性
• 振动耐受性
• 机械强度测试
• 光纤端面清洁度
• 光源输出功率一致性
• 信号传输延迟
• 多模与单模兼容性
• 光谱响应特性
• 环境光干扰测试
• 长期老化性能
• 封装气密性
• 电磁兼容性

检测范围

• 光纤连接器
• 光模块（SFP/QSFP）
• 激光二极管
• 光电探测器
• 光分路器
• 光纤放大器
• 光开关
• 波分复用器
• 光纤跳线
• 光耦合器
• 硅光芯片
• 光子集成电路
• 光纤传感器
• 光收发组件
• 光衰减器
• 光纤适配器
• 光学透镜组件
• 自由空间光学器件
• 光纤阵列
• 波长选择开关

检测方法

• 插入损耗测试法（基于光功率计测量）
• 回波损耗测试法（OTDR或专用反射仪）
• 光谱分析法（光谱仪采集波长特性）
• 偏振相关损耗测试法（偏振控制器与光源联用）
• 高低温循环测试法（环境试验箱模拟极端条件）
• 机械振动测试法（振动台模拟运输与使用场景）
• 端面干涉检测法（干涉仪评估光纤端面质量）
• 光束质量分析法（M²因子测量系统）
• 眼图分析法（示波器评估信号完整性）
• 气密性检测法（氦质谱检漏仪）
• 寿命加速试验法（高温高湿环境加速老化）
• 近场与远场扫描法（光束轮廓分析仪）
• 多参数同步测试法（集成化测试平台）
• 光纤几何参数测试法（显微镜与图像分析）
• EMC测试法（电磁兼容实验室）

检测仪器

• 光功率计
• 光谱分析仪
• 光时域反射仪（OTDR）
• 偏振控制器
• 高低温试验箱
• 振动测试台
• 光纤端面干涉仪
• 光束质量分析仪
• 数字存储示波器
• 氦质谱检漏仪
• M²因子测量系统
• 光纤熔接机
• 光开关矩阵
• 近红外相机
• 电磁兼容测试系统