表面化学分析
承诺：我们的检测流程严格遵循国际标准和规范，确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备，配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析，我们都严格把控每个环节，以确保客户获得真实可信的检测结果。
检测样品：金属，塑料等各种材料。
检测项目：表面化学分析
检测周期：7-15个工作日(参考周期)
检测标准参考
BS ISO 14237-2010表面化学分析.次级离子质谱法.使用非均一掺杂材料的硅中硼原子的浓度测定
BS ISO 14706-2000表面化学分析 用全反射X射线荧光(TXRF)分光术测定硅片的表面基本污染
BS ISO 14706-2000(R2007)表面化学分析 用全反射X射线荧光(TXRF)分光术测定硅片的表面基本污染
BS ISO 14707-2000表面化学分析.辉光放电发射光谱.使用介绍
BS ISO 14975-2000表面化学分析 信息格式
BS ISO 17560-2002表面化学分析 次级离子质谱法 硅中硼深度压型的方法
BS ISO 17560-2002(R2010)表面化学分析 次级离子质谱法 硅中硼深度压型的方法
BS ISO 17974-2002表面化学分析 高分辨率奥格电子光谱仪 元素和化学分析能量仪的校准
BS ISO 18114-2003表面化学分析 次级离子质谱法 离子植入参考材料相对灵敏度的测定
BS ISO 20341-2003表面化学分析 次级离子质谱法 用多Δ层参考物质估算深度分辨参数的方法
BS ISO 20341-2003(R2010)表面化学分析 次级离子质谱法 用多Δ层参考物质估算深度分辨参数的方法
BS ISO 24236-2005表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性
GB/T 19499-2004表面化学分析一数据传输格式
GB/T 19500-2004X一射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 19502-2004表面化学分析一辉光放电发射光谱方法通则
GB/T 20175-2006表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 20176-2006表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 21007-2007表面化学分析 信息格式
GB/T 22461-2008表面化学分析 词汇
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试。
以上是关于表面化学分析的相关介绍，如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。
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