无机导电粉粒径检测

信息概要

无机导电粉粒径检测是评估导电材料性能的核心环节，直接关系到电子元器件、新能源电池、电磁屏蔽材料的导电效率和稳定性。通过准确测定粉末颗粒的尺寸分布与形态特征，可优化生产工艺，确保产品在集成电路、导电油墨、抗静电涂料等领域的可靠应用。第三方检测机构依据ISO 13320等国际标准，提供认证服务，帮助客户满足行业规范并提升产品竞争力。

检测项目

• 粒径分布曲线
• D10粒径值
• D50中位径
• D90粒径值
• 比表面积
• 颗粒圆形度
• 长径比分布
• 团聚指数
• 体积平均径
• 数量平均径
• 粒度跨度值
• 粒径均匀性
• 大颗粒占比
• 亚微米颗粒含量
• 最大单颗粒尺寸
• 颗粒轮廓粗糙度
• 粒径分布宽度
• 模态粒径
• 表面孔隙率
• Zeta电位
• 颗粒沉降速率
• 球形度分布
• 附聚体尺寸
• 分形维数
• 粒径分布偏度
• 峰值尖锐度
• 粒径区间占比
• 等效球径
• 孔道直径分布
• 颗粒投影面积
• 粒度分布对称性
• 质量累积分布

检测范围

• 银包铜粉
• 纳米氧化锌
• 镍包石墨粉
• 镀银玻璃微珠
• 碳纳米管粉体
• 导电氧化铝
• 铜银复合粉
• 石墨烯粉末
• 钛酸钡基粉体
• 导电云母粉
• 锑掺杂氧化锡
• 镍包铝粉
• 钴包碳化钨
• 导电钛白粉
• 铁镍合金粉
• 氧化铟锡粉
• 导电陶瓷粉末
• 铝镍合金粉
• 镀银陶瓷粉
• 锰铜合金粉
• 钨铜复合粉
• 导电碳黑
• 银包镍粉
• 氧化锌晶须
• 导电氮化钛
• 不锈钢导电粉
• 钼粉
• 银粉
• 铜粉
• 镍粉
• 镀银二氧化硅
• 导电碳化硅

检测方法

• 激光衍射法：通过颗粒对激光的散射模式计算粒径分布
• 动态光散射：测量纳米颗粒在溶液中的布朗运动速度
• 电镜图像分析法：利用SEM/TEM图像直接测量颗粒几何尺寸
• 沉降法：根据斯托克斯定律测定颗粒沉降速度
• 库尔特计数法：通过微孔电阻变化统计颗粒数量分布
• X射线离心法：结合离心力场与X射线检测的粒度分析
• 超声衰减法：测量超声波在悬浮液中的能量衰减
• 气体吸附法：基于BET原理测定比表面积
• 静态图像分析法：采集静态颗粒图像进行形态学测量
• 动态图像分析法：连续捕获运动颗粒进行实时分析
• 电泳光散射：测量颗粒在电场中的迁移速率
• 小角X射线散射：分析纳米级颗粒的散射图谱
• 气溶胶粒径谱仪：测量气载颗粒的空气动力学直径
• 离心沉降法：在离心力场中加速沉降过程
• 光子相关光谱法：检测散射光强波动反演粒径
• 电阻法：统计颗粒通过微孔引起的电阻脉冲
• 场流分级法：利用场流分离不同尺寸颗粒
• 质谱法：通过荷质比分离带电颗粒
• X射线衍射法：通过晶格参数间接计算粒径
• 原子力显微镜：直接测量表面颗粒三维形貌

检测方法

• 激光粒度分析仪
• 动态光散射仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 离心沉降仪
• 库尔特计数器
• 比表面积分析仪
• 超声粒度仪
• 图像分析系统
• 纳米粒度电位仪
• X射线衍射仪
• 场流分离系统
• 气溶胶粒径谱仪
• 原子力显微镜
• 颗粒计数器