粒子表面粗糙度测试

信息概要

粒子表面粗糙度测试是一项关键的表面形貌分析技术，广泛应用于材料科学、化工、医药、电子等领域。该测试通过量化粒子表面的微观不规则性，为产品质量控制、工艺优化及性能评估提供科学依据。检测的重要性在于，表面粗糙度直接影响材料的摩擦性能、涂层附着力、光学特性及生物相容性等关键指标。第三方检测机构依托设备与技术，为客户提供精准、可靠的粗糙度数据服务，确保产品符合行业标准及特定应用需求。

检测项目

• 平均粗糙度（Ra）
• 均方根粗糙度（Rq）
• 最大峰谷高度（Rz）
• 十点高度粗糙度（Rz1max）
• 轮廓最大高度（Rt）
• 轮廓偏斜度（Rsk）
• 轮廓陡度（Rku）
• 核心粗糙度深度（Rk）
• 减少峰高（Rvk）
• 峰顶弧半径（Rp）
• 谷底弧半径（Rv）
• 轮廓支承长度率（Rmr）
• 轮廓波长（Rsm）
• 表面孔隙率
• 表面分形维数
• 局部斜率分布
• 峰密度
• 平均峰间距
• 表面能计算
• 接触角关联分析

检测范围

• 金属粉末
• 陶瓷微球
• 聚合物颗粒
• 药物微粒
• 碳纳米管
• 石墨烯片层
• 半导体晶圆
• 催化剂载体
• 磨料微粉
• 化妆品填充剂
• 电池电极材料
• 磁性颗粒
• 生物降解材料
• 荧光粉体
• 水泥掺合料
• 食品添加剂颗粒
• 3D打印粉末
• 纳米复合材料
• 矿物填料
• 纤维增强颗粒

检测方法

• 原子力显微镜（AFM）：纳米级三维形貌扫描
• 激光共聚焦显微镜：非接触式光学轮廓测量
• 白光干涉仪：亚纳米级垂直分辨率分析
• 扫描电子显微镜（SEM）：高倍率表面形貌观察
• 触针式轮廓仪：接触式线性粗糙度测量
• 动态光散射（DLS）：悬浮颗粒表面特性关联分析
• X射线衍射（XRD）：晶体表面缺陷检测
• 比表面积分析（BET）：间接评估表面不规则性
• 拉曼光谱：表面化学组成与形貌关联
• 聚焦离子束（FIB）：截面形貌重构
• 数字全息显微镜：实时三维表面成像
• 近场光学显微镜：突破衍射极限的表面观测
• 椭圆偏振仪：薄膜表面粗糙度测量
• 超声散射法：体材料表面特性评估
• 纳米压痕技术：局部力学性能与形貌关联

检测仪器

• 原子力显微镜
• 激光共聚焦显微镜
• 白光干涉仪
• 扫描电子显微镜
• 触针式轮廓仪
• 动态光散射仪
• X射线衍射仪
• 比表面积分析仪
• 拉曼光谱仪
• 聚焦离子束系统
• 数字全息显微镜
• 近场光学显微镜
• 椭圆偏振仪
• 超声散射分析仪
• 纳米压痕仪