粒子分散强度测量

信息概要

粒子分散强度测量是评估材料中颗粒分布均匀性和稳定性的重要手段，广泛应用于化工、医药、食品、涂料等行业。通过的第三方检测机构进行粒子分散强度测量，可以确保产品质量、优化生产工艺，并满足行业标准或法规要求。检测结果能够帮助客户识别颗粒团聚、沉降或其他分散问题，从而提升产品性能和市场竞争力。

检测项目

• 粒径分布
• 分散均匀性
• Zeta电位
• 颗粒浓度
• 团聚指数
• 沉降速率
• 流变特性
• 表面电荷密度
• 分散稳定性
• 颗粒形貌
• 比表面积
• 孔隙率
• 黏度变化
• 光学透明度
• 电导率
• pH值影响
• 温度稳定性
• 机械稳定性
• 储存稳定性
• 化学相容性

检测范围

• 纳米材料
• 涂料与油墨
• 陶瓷浆料
• 医药制剂
• 食品添加剂
• 化妆品
• 农药悬浮剂
• 橡胶复合材料
• 塑料母粒
• 电池电极材料
• 磁性流体
• 水处理剂
• 染料与颜料
• 金属粉末
• 胶体溶液
• 乳状液
• 凝胶材料
• 高分子分散体
• 矿物浆料
• 生物制剂

检测方法

• 动态光散射法（DLS）：通过激光散射测量颗粒粒径分布。
• 激光衍射法（LD）：利用衍射模式分析颗粒大小。
• 电泳光散射法（ELS）：测定Zeta电位和表面电荷。
• 离心沉降法：评估颗粒沉降行为及分散稳定性。
• 显微镜观察法：直接观察颗粒形貌和分散状态。
• 比表面积分析（BET）：通过气体吸附计算比表面积。
• 流变仪测试：分析分散体系的流变特性。
• 紫外-可见分光光度法：检测分散体系的透明度或吸光度。
• 电导率测定：评估分散体系的离子浓度。
• pH值测试：分析分散介质对稳定性的影响。
• 静态光散射法（SLS）：测量颗粒分子量和结构。
• X射线衍射（XRD）：鉴定颗粒晶体结构。
• 扫描电子显微镜（SEM）：高分辨率观察颗粒表面形貌。
• 透射电子显微镜（TEM）：分析纳米级颗粒的内部结构。
• 纳米颗粒跟踪分析（NTA）：实时跟踪颗粒运动与浓度。

检测仪器

• 动态光散射仪
• 激光粒度分析仪
• Zeta电位分析仪
• 离心沉降仪
• 光学显微镜
• 比表面积分析仪
• 流变仪
• 紫外-可见分光光度计
• 电导率仪
• pH计
• 静态光散射仪
• X射线衍射仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 纳米颗粒跟踪分析仪