CNAS资质
CNAS资质
cma资质
CMA资质
iso认证
ISO体系
高新技术企业
高新技术企业
首页 检测项目 新闻动态 搜索一下
中析检测

X射线荧光检测

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-06-07  /
咨询工程师

信息概要

X射线荧光检测是一种非破坏性的分析技术,广泛应用于材料成分的定性和定量分析。该技术通过测量样品在X射线激发下产生的特征荧光,快速准确地确定元素组成及其含量。第三方检测机构提供的X射线荧光检测服务,可帮助客户确保产品质量、符合环保法规、优化生产工艺,并满足进出口贸易的合规要求。

检测的重要性在于:能够有效识别材料中的有害元素(如铅、镉、汞等),保障产品安全性;同时为质量控制、材料认证和研发提供可靠数据支持,降低企业风险。

检测项目

  • 铅含量
  • 镉含量
  • 汞含量
  • 铬含量
  • 砷含量
  • 硒含量
  • 锑含量
  • 钡含量
  • 铜含量
  • 锌含量
  • 镍含量
  • 铁含量
  • 锰含量
  • 钴含量
  • 锡含量
  • 银含量
  • 金含量
  • 钛含量
  • 铝含量
  • 硅含量

检测范围

  • 电子元器件
  • 塑料制品
  • 金属合金
  • 涂料和油墨
  • 陶瓷材料
  • 玻璃制品
  • 建筑材料
  • 汽车零部件
  • 玩具产品
  • 珠宝首饰
  • 包装材料
  • 纺织品
  • 食品接触材料
  • 土壤样品
  • 矿石样品
  • 废水沉积物
  • 化妆品
  • 医药产品
  • 电池材料
  • 焊接材料

检测方法

  • 能量色散X射线荧光光谱法(ED-XRF):通过能量差异区分元素特征峰
  • 波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF):利用分光晶体分离特征波长
  • 微区X射线荧光分析(μ-XRF):针对微小区域进行高分辨率检测
  • 全反射X射线荧光光谱法(TXRF):适用于痕量元素分析
  • 偏振X射线荧光光谱法:降低背景干扰提高灵敏度
  • 同步辐射X射线荧光:利用同步辐射光源实现超高灵敏度
  • 手持式XRF快速筛查:现场快速定性半定量分析
  • 薄膜样品XRF分析:专门针对镀层/薄膜结构的检测
  • 粉末压片法:固体粉末样品制备技术
  • 熔融玻璃片法:消除矿物效应的高精度方法
  • 液体样品XRF分析:特殊设计的液体样品池检测
  • 大气颗粒物XRF分析:环境空气污染监测技术
  • 生物样品XRF分析:针对有机基质样品的特殊处理
  • 3D-XRF成像:元素三维分布可视化技术
  • 共聚焦XRF:实现样品内部不同深度的分层分析

检测仪器

  • 能量色散X射线荧光光谱仪
  • 波长色散X射线荧光光谱仪
  • 微区X射线荧光分析仪
  • 手持式XRF分析仪
  • 台式XRF光谱仪
  • 在线XRF检测系统
  • 全反射X荧光光谱仪
  • 偏振X射线荧光分析仪
  • 同步辐射XRF设备
  • 3D-XRF成像系统
  • 共聚焦XRF仪器
  • 多道X荧光光谱仪
  • 高分辨率XRF光谱仪
  • 便携式XRF检测仪
  • 实验室级XRF分析系统

了解中析

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

实验室仪器

合作客户

我们的实力

推荐相关阅读
中析研究所第三方检测机构,国家高新技术企业,主要为政府部门、事业单位、企业公司以及大学高校提供检测分析鉴定服务!
研究所仪器 | 研究所动态 | 检测项目 | 化工资讯

【地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121】,【山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼】,【邮箱地址:010@yjsyi.com】

https://www.bjhgyjs.com Copyright © 2024 All Rights Reserved-检测机构-搜索一下-网站地图 - 免责声明

版权所有:北京中科光析科学技术研究所-【投诉举报】010-82491398  备案信息:京ICP备15067471号-34京公网安备 11010802035695号