激光诱导击穿检测

信息概要

激光诱导击穿检测（LIBS）是一种先进的光谱分析技术，通过高能激光脉冲激发样品表面产生等离子体，并分析其发射光谱来确定样品的元素组成。该技术具有快速、无损、多元素同时检测等优势，广泛应用于材料科学、环境监测、工业质量控制等领域。

检测的重要性在于，激光诱导击穿检测能够提供高精度的元素分析结果，帮助企业和研究机构准确掌握材料成分，确保产品质量符合行业标准或法规要求。同时，该技术还能用于污染物检测、材料溯源等场景，为安全生产和环境保护提供数据支持。

检测项目

• 元素含量分析
• 金属杂质检测
• 非金属元素测定
• 氧化物含量检测
• 碳含量分析
• 硫含量测定
• 氮含量检测
• 氧含量分析
• 氢含量测定
• 卤素元素检测
• 重金属含量分析
• 稀土元素测定
• 碱金属含量检测
• 碱土金属分析
• 过渡金属测定
• 贵金属含量检测
• 半导体元素分析
• 放射性元素筛查
• 微量元素测定
• 同位素比值分析

检测范围

• 金属合金
• 矿石矿物
• 土壤沉积物
• 废水污泥
• 大气颗粒物
• 塑料聚合物
• 陶瓷材料
• 玻璃制品
• 电子元器件
• 电池材料
• 涂料涂层
• 纺织品
• 食品添加剂
• 药品原料
• 化妆品成分
• 建筑材料
• 汽车零部件
• 航空航天材料
• 核燃料材料
• 艺术品文物

检测方法

• 激光诱导击穿光谱法（LIBS）：通过激光激发样品产生等离子体并分析其发射光谱
• 能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）：利用X射线激发样品产生特征X射线进行元素分析
• 波长色散X射线荧光光谱法（WDXRF）：通过分光晶体分离不同波长的特征X射线
• 电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）：将样品雾化后在等离子体中激发并检测
• 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：结合等离子体电离和质谱检测的高灵敏度方法
• 原子吸收光谱法（AAS）：通过原子对特定波长光的吸收进行元素定量
• 原子荧光光谱法（AFS）：测量原子被激发后发出的荧光强度
• 火花源原子发射光谱法：利用电火花激发样品产生发射光谱
• 辉光放电光谱法（GDOES）：通过辉光放电激发样品表面原子
• 二次离子质谱法（SIMS）：用离子束溅射样品表面并分析溅射出的二次离子
• X射线光电子能谱法（XPS）：测量样品表面元素的光电子能量
• 俄歇电子能谱法（AES）：分析俄歇电子能量确定表面元素组成
• 中子活化分析法：通过中子辐照样品测量产生的放射性核素
• 质子诱导X射线发射法（PIXE）：用质子束激发样品产生特征X射线
• 卢瑟福背散射谱法（RBS）：分析高能离子束与样品原子核的弹性散射

检测仪器

• 激光诱导击穿光谱仪
• 能量色散X射线荧光光谱仪
• 波长色散X射线荧光光谱仪
• 电感耦合等离子体原子发射光谱仪
• 电感耦合等离子体质谱仪
• 原子吸收光谱仪
• 原子荧光光谱仪
• 火花源原子发射光谱仪
• 辉光放电光谱仪
• 二次离子质谱仪
• X射线光电子能谱仪
• 俄歇电子能谱仪
• 中子活化分析仪
• 质子诱导X射线发射分析仪
• 卢瑟福背散射谱仪

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