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中析检测

多元素同位素联合验证

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咨询量:  
更新时间:2025-07-01  /
咨询工程师

信息概要

多元素同位素联合验证是一种先进的检测技术,通过分析样品中多种元素的同位素组成,提供高精度的物质来源、形成过程及真伪鉴别等信息。该技术广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探、医药研发等领域,确保数据的准确性和可靠性。检测的重要性在于其能够揭示样品的本质特征,为科学研究、产品质量控制及法律鉴定提供关键依据。

检测项目

  • 碳同位素比值
  • 氮同位素比值
  • 氧同位素比值
  • 氢同位素比值
  • 硫同位素比值
  • 铅同位素比值
  • 锶同位素比值
  • 钕同位素比值
  • 铀同位素比值
  • 钍同位素比值
  • 镭同位素比值
  • 钾同位素比值
  • 钙同位素比值
  • 镁同位素比值
  • 铁同位素比值
  • 锌同位素比值
  • 铜同位素比值
  • 硼同位素比值
  • 硅同位素比值
  • 氯同位素比值

检测范围

  • 环境样品
  • 食品与农产品
  • 饮用水
  • 土壤与沉积物
  • 岩石与矿物
  • 大气颗粒物
  • 生物组织
  • 药品与保健品
  • 化妆品
  • 工业原料
  • 废水与废气
  • 化石燃料
  • 金属与合金
  • 考古样品
  • 珠宝与贵金属
  • 塑料与聚合物
  • 纺织品
  • 电子产品
  • 化学品
  • 放射性物质

检测方法

  • 热电离质谱法(TIMS):用于高精度同位素比值测定
  • 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):适用于多元素同位素分析
  • 气体同位素质谱法(IRMS):专门用于轻元素同位素分析
  • 二次离子质谱法(SIMS):用于微区同位素分析
  • 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS):适用于固体样品直接分析
  • 加速器质谱法(AMS):用于极低丰度同位素检测
  • X射线荧光光谱法(XRF):用于元素组成快速筛查
  • 中子活化分析(NAA):用于痕量元素同位素分析
  • 同位素稀释法(IDMS):提高同位素测定准确性
  • 气相色谱-质谱联用法(GC-MS):用于挥发性化合物同位素分析
  • 液相色谱-质谱联用法(LC-MS):用于非挥发性化合物同位素分析
  • 激光诱导击穿光谱法(LIBS):用于快速元素分析
  • 原子吸收光谱法(AAS):用于特定元素同位素分析
  • 紫外可见分光光度法(UV-Vis):用于某些元素形态分析
  • 电化学分析法:用于特定元素同位素检测

检测仪器

  • 热电离质谱仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 气体同位素质谱仪
  • 二次离子质谱仪
  • 激光剥蚀系统
  • 加速器质谱仪
  • X射线荧光光谱仪
  • 中子活化分析仪
  • 气相色谱-质谱联用仪
  • 液相色谱-质谱联用仪
  • 激光诱导击穿光谱仪
  • 原子吸收光谱仪
  • 紫外可见分光光度计
  • 电化学分析仪
  • 同位素比值质谱仪

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