多元素同位素联合验证
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信息概要
多元素同位素联合验证是一种先进的检测技术,通过分析样品中多种元素的同位素组成,提供高精度的物质来源、形成过程及真伪鉴别等信息。该技术广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探、医药研发等领域,确保数据的准确性和可靠性。检测的重要性在于其能够揭示样品的本质特征,为科学研究、产品质量控制及法律鉴定提供关键依据。
检测项目
- 碳同位素比值
- 氮同位素比值
- 氧同位素比值
- 氢同位素比值
- 硫同位素比值
- 铅同位素比值
- 锶同位素比值
- 钕同位素比值
- 铀同位素比值
- 钍同位素比值
- 镭同位素比值
- 钾同位素比值
- 钙同位素比值
- 镁同位素比值
- 铁同位素比值
- 锌同位素比值
- 铜同位素比值
- 硼同位素比值
- 硅同位素比值
- 氯同位素比值
检测范围
- 环境样品
- 食品与农产品
- 饮用水
- 土壤与沉积物
- 岩石与矿物
- 大气颗粒物
- 生物组织
- 药品与保健品
- 化妆品
- 工业原料
- 废水与废气
- 化石燃料
- 金属与合金
- 考古样品
- 珠宝与贵金属
- 塑料与聚合物
- 纺织品
- 电子产品
- 化学品
- 放射性物质
检测方法
- 热电离质谱法(TIMS):用于高精度同位素比值测定
- 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):适用于多元素同位素分析
- 气体同位素质谱法(IRMS):专门用于轻元素同位素分析
- 二次离子质谱法(SIMS):用于微区同位素分析
- 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS):适用于固体样品直接分析
- 加速器质谱法(AMS):用于极低丰度同位素检测
- X射线荧光光谱法(XRF):用于元素组成快速筛查
- 中子活化分析(NAA):用于痕量元素同位素分析
- 同位素稀释法(IDMS):提高同位素测定准确性
- 气相色谱-质谱联用法(GC-MS):用于挥发性化合物同位素分析
- 液相色谱-质谱联用法(LC-MS):用于非挥发性化合物同位素分析
- 激光诱导击穿光谱法(LIBS):用于快速元素分析
- 原子吸收光谱法(AAS):用于特定元素同位素分析
- 紫外可见分光光度法(UV-Vis):用于某些元素形态分析
- 电化学分析法:用于特定元素同位素检测
检测仪器
- 热电离质谱仪
- 电感耦合等离子体质谱仪
- 气体同位素质谱仪
- 二次离子质谱仪
- 激光剥蚀系统
- 加速器质谱仪
- X射线荧光光谱仪
- 中子活化分析仪
- 气相色谱-质谱联用仪
- 液相色谱-质谱联用仪
- 激光诱导击穿光谱仪
- 原子吸收光谱仪
- 紫外可见分光光度计
- 电化学分析仪
- 同位素比值质谱仪
了解中析