消解方法同位素

信息概要

消解方法同位素检测是一种用于分析样品中同位素组成的高精度检测技术，广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探等领域。该技术通过消解样品并测定同位素比值，为科学研究、工业生产和质量控制提供关键数据支持。

检测的重要性在于，同位素组成能够反映样品的来源、形成过程以及可能的环境污染情况。通过准确测定同位素比值，可以追溯物质来源、评估环境变化，并为相关行业提供科学依据。

检测项目

• 碳同位素比值（δ13C）
• 氮同位素比值（δ15N）
• 硫同位素比值（δ34S）
• 氧同位素比值（δ18O）
• 氢同位素比值（δD）
• 铅同位素比值（206Pb/207Pb）
• 锶同位素比值（87Sr/86Sr）
• 铀同位素比值（238U/235U）
• 钍同位素比值（232Th/230Th）
• 镭同位素比值（226Ra/228Ra）
• 硼同位素比值（δ11B）
• 锂同位素比值（δ7Li）
• 镁同位素比值（δ26Mg）
• 钙同位素比值（δ44Ca）
• 铁同位素比值（δ56Fe）
• 铜同位素比值（δ65Cu）
• 锌同位素比值（δ66Zn）
• 镉同位素比值（δ114Cd）
• 汞同位素比值（δ202Hg）
• 硒同位素比值（δ82Se）

检测范围

• 环境水样
• 土壤样品
• 沉积物
• 岩石矿物
• 大气颗粒物
• 生物组织
• 食品及农产品
• 饮料
• 化妆品
• 药品
• 工业废水
• 废气
• 固体废弃物
• 化石燃料
• 金属材料
• 陶瓷材料
• 塑料制品
• 纺织品
• 电子产品
• 建筑材料

检测方法

• 热电离质谱法（TIMS）：通过高温电离样品并测定同位素比值。
• 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：利用等离子体电离样品并进行高精度测定。
• 气体同位素质谱法（IRMS）：专门用于轻元素同位素比值的测定。
• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS）：适用于固体样品的直接分析。
• 二次离子质谱法（SIMS）：通过离子束轰击样品表面进行微区分析。
• 加速器质谱法（AMS）：用于极低浓度同位素的测定。
• 多接收电感耦合等离子体质谱法（MC-ICP-MS）：提供高精度的同位素比值数据。
• 稳定同位素比率质谱法（SIRMS）：用于轻元素稳定同位素的分析。
• 同位素稀释质谱法（IDMS）：通过添加已知量同位素进行定量分析。
• 气相色谱-同位素质谱联用法（GC-IRMS）：用于挥发性化合物的同位素分析。
• 液相色谱-同位素质谱联用法（LC-IRMS）：用于非挥发性化合物的同位素分析。
• X射线荧光光谱法（XRF）：用于元素组成的快速筛查。
• 中子活化分析法（NAA）：通过中子轰击测定同位素含量。
• 同位素比红外光谱法（IRIS）：用于水样中氢氧同位素的测定。
• 同位素比激光光谱法（LGR）：提供快速、高精度的同位素比值数据。

检测仪器

• 热电离质谱仪（TIMS）
• 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）
• 气体同位素质谱仪（IRMS）
• 多接收电感耦合等离子体质谱仪（MC-ICP-MS）
• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪（LA-ICP-MS）
• 二次离子质谱仪（SIMS）
• 加速器质谱仪（AMS）
• 稳定同位素比率质谱仪（SIRMS）
• 气相色谱-同位素质谱联用仪（GC-IRMS）
• 液相色谱-同位素质谱联用仪（LC-IRMS）
• X射线荧光光谱仪（XRF）
• 中子活化分析仪（NAA）
• 同位素比红外光谱仪（IRIS）
• 同位素比激光光谱仪（LGR）
• 高分辨电感耦合等离子体质谱仪（HR-ICP-MS）