电镜扫描测试

信息概要

• 电镜扫描测试是一种高分辨率微观分析技术，利用电子束扫描样品表面，生成详细图像，用于观察形貌、成分和结构。
• 该测试在材料科学、电子学和生物学等领域至关重要，能够提供产品质量控制、失效分析和研发创新的关键数据。
• 通过电镜扫描，第三方检测机构帮助客户确保产品符合标准，提升可靠性和性能，适用于各种工业应用。

检测项目

• 放大倍数
• 分辨率
• 工作距离
• 加速电压
• 束流强度
• 探测器信号
• 图像对比度
• 亮度调节
• 表面形貌观察
• 元素组成分析
• 元素分布映射
• 线扫描分析
• 点分析
• 面分析
• 颗粒尺寸测量
• 颗粒分布统计
• 孔隙大小评估
• 孔隙分布图
• 表面粗糙度量化
• 晶体取向分析
• 相鉴定
• 化学成分定性和定量
• 杂质含量检测
• 涂层厚度测量
• 界面结构分析
• 缺陷识别和分类
• 形貌三维重建
• 原位动态观察
• 环境适应性测试
• 样品导电性评估

检测范围

• 金属材料
• 合金材料
• 陶瓷材料
• 聚合物材料
• 复合材料
• 半导体材料
• 生物材料
• 纳米材料
• 薄膜材料
• 涂层材料
• 电子材料
• 磁性材料
• 光学材料
• 建筑材料
• 汽车材料
• 航空航天材料
• 医疗器械材料
• 食品包装材料
• 纺织品材料
• 木材材料
• 石材材料
• 玻璃材料
• 橡胶材料
• 塑料材料
• 纸张材料
• 颜料材料
• 催化剂材料
• 电池材料
• 太阳能电池材料
• 环境样品

检测方法

• 二次电子成像（SEI）：用于观察样品表面形貌，基于二次电子信号生成高分辨率图像。
• 背散射电子成像（BSE）：利用背散射电子进行成分对比成像，区分不同原子序数区域。
• 能谱分析（EDS）：通过X射线能谱进行元素定性和定量分析，快速检测成分。
• 波谱分析（WDS）：高精度元素分析方法，提供更准确的成分数据。
• 电子背散射衍射（EBSD）：分析晶体结构和取向，用于材料学表征。
• 阴极发光（CL）：研究材料发光特性，适用于半导体和矿物分析。
• 原位拉伸测试：在电镜下进行力学测试，观察样品变形过程。
• 高温观察：在加热条件下分析样品热行为。
• 低温观察：在冷却条件下研究低温效应。
• 环境扫描电镜（ESEM）：允许在低真空下观察湿样品或不导电材料。
• 聚焦离子束（FIB）加工：用于样品制备、切割和纳米级加工。
• 三维重建：通过序列扫描生成三维模型，分析内部结构。
• 元素映射：显示元素在样品表面的分布情况。
• 线扫描：沿直线路径进行成分分析，获取浓度变化。
• 点分析：在特定点进行详细成分检测。
• 面分析：在选定区域进行平均成分评估。
• 颗粒分析：自动测量颗粒尺寸、形状和分布。
• 粗糙度测量：量化表面不平整度。
• 厚度测量：准确测量薄膜或涂层厚度。
• 缺陷分析：识别和分类表面或内部缺陷。

检测仪器

• 扫描电子显微镜（SEM）
• 能谱仪（EDS）
• 波谱仪（WDS）
• 电子背散射衍射系统（EBSD）
• 聚焦离子束系统（FIB）
• 环境扫描电镜（ESEM）
• 场发射扫描电镜（FE-SEM）
• 钨灯丝扫描电镜
• 硅漂移探测器（SDD）
• 波长色散谱仪
• 阴极发光探测器（CL）
• 原位拉伸台
• 高温样品台
• 低温样品台
• 能谱映射系统