光学组件形位公差测试

信息概要

• 光学组件形位公差测试是针对光学元件几何形状和位置公差的检测服务，确保组件在光学系统中实现高精度装配和性能稳定。
• 检测的重要性在于避免因公差累积导致光学系统成像质量下降、像差增大或功能失效，从而提升产品可靠性和市场竞争力。
• 本检测服务概括了多种形位公差参数、方法和仪器，提供全面测试方案，确保光学组件符合国际标准如ISO 10110等。

检测项目

• 直线度
• 平面度
• 圆度
• 圆柱度
• 线轮廓度
• 面轮廓度
• 平行度
• 垂直度
• 倾斜度
• 位置度
• 同轴度
• 对称度
• 圆跳动
• 全跳动
• 曲率半径
• 光圈数
• 局部光圈
• 角度误差
• 厚度公差
• 偏心公差
• 表面粗糙度
• 球面度
• 非球面度
• 棱镜角度公差
• 透镜中心厚度
• 边缘厚度
• 焦距公差
• 后焦距
• 像散
• 场曲

检测范围

• 球面透镜
• 非球面透镜
• 柱面透镜
• 棱镜
• 反射镜
• 窗口片
• 滤光片
• 分光镜
• 偏振片
• 波片
• 光栅
• 光纤接头
• 激光镜片
• 红外透镜
• 紫外透镜
• 显微镜物镜
• 望远镜镜片
• 相机镜头
• 投影镜头
• 眼镜片
• 隐形眼镜
• 光学平板
• 棱镜组合
• 反射镜组
• 光学系统装配
• 光机组件
• 光电模块
• 激光谐振腔
• 干涉仪组件
• 衍射光学元件

检测方法

• 三坐标测量法：使用三坐标测量机进行高精度三维几何尺寸和形位公差测量。
• 激光干涉法：利用激光干涉仪检测光学表面的平面度、平行度等参数。
• 自准直法：通过自准直仪测量角度偏差和直线度误差。
• 光学比较法：借助光学比较仪与标准件进行快速视觉对比测量。
• 白光干涉法：应用于表面轮廓和粗糙度的非接触式测量。
• 相位偏移干涉法：用于高精度波前和表面形貌分析。
• 刀口检测法：评估透镜焦点位置和像质性能。
• 哈特曼检测法：通过哈特曼传感器测量光学系统的波前像差。
• 夏克-哈特曼波前传感器法：实时检测波前畸变和公差。
• 莫尔条纹法：基于莫尔效应进行位移和形状测量。
• 投影仪测量法：使用投影仪放大图像进行尺寸和公差比较。
• 影像测量法：结合摄像头和图像处理软件进行二维或三维测量。
• 接触式探针法：通过机械探针接触表面获取几何数据。
• 非接触式激光扫描法：激光扫描仪快速获取物体表面点云数据。
• 共聚焦显微镜法：用于微观表面形貌和粗糙度检测。
• 原子力显微镜法：实现纳米级表面形状和公差测量。
• 泰勒霍布森轮廓仪法：专门测量表面粗糙度和轮廓度。
• 圆度测量仪法：专注于圆度和圆柱度参数的检测。
• 平行度测量仪法：利用专用设备测量组件间的平行度。
• 垂直度测量仪法：通过角度传感器检测垂直度误差。

检测仪器

• 三坐标测量机
• 激光干涉仪
• 自准直仪
• 光学比较仪
• 白光干涉仪
• 相位偏移干涉仪
• 哈特曼波前传感器
• 莫尔条纹仪
• 投影仪
• 影像测量仪
• 接触式探针
• 激光扫描仪
• 共聚焦显微镜
• 原子力显微镜
• 圆度测量仪