嵌入式存储器检测

信息概要

• 嵌入式存储器检测服务是针对集成电路中嵌入的存储单元（如SRAM、DRAM、Flash等）进行的测试，确保其性能、可靠性和兼容性符合行业标准。
• 检测的重要性在于保障嵌入式系统在高速、低功耗等应用场景下的稳定运行，防止数据丢失，提升产品寿命，并满足JEDEC、AEC-Q100等规范要求。
• 本服务提供从功能验证到环境适应性测试的全套解决方案，帮助客户优化设计并降低风险。

检测项目

• 读写速度测试
• 访问时间测量
• 待机功耗测试
• 工作功耗测试
• 数据保持时间测试
• 耐久性（擦写次数）测试
• 保持电压测试
• 工作温度范围测试
• 存储温度范围测试
• 接口兼容性测试
• 时序参数验证
• 信号完整性分析
• 电源噪声抑制测试
• 电磁兼容性测试
• 静电放电防护测试
• 闩锁效应测试
• 热阻测试
• 老化测试
• 加速寿命测试
• 数据保留测试
• 错误检测与纠正测试
• 坏块管理测试
• 读写延迟测试
• 带宽测试
• 多端口访问测试
• 低功耗模式测试
• 唤醒时间测试
• 睡眠电流测试
• 启动时间测试
• 关机时间测试
• 噪声免疫力测试
• 电压容限测试
• 时钟抖动测试
• 复位功能测试
• 封装可靠性测试

检测范围

• 静态随机存取存储器 (SRAM)
• 动态随机存取存储器 (DRAM)
• 同步动态随机存取存储器 (SDRAM)
• 双倍数据速率同步动态随机存取存储器 (DDR SDRAM)
• 低功耗双倍数据速率同步动态随机存取存储器 (LPDDR)
• 图形双倍数据速率同步动态随机存取存储器 (GDDR)
• 闪存存储器 (Flash Memory)
• NOR闪存
• NAND闪存
• 单层单元NAND (SLC NAND)
• 多层单元NAND (MLC NAND)
• 三层单元NAND (TLC NAND)
• 四层单元NAND (QLC NAND)
• 电可擦可编程只读存储器 (EEPROM)
• 掩模只读存储器 (Mask ROM)
• 可编程只读存储器 (PROM)
• 可擦可编程只读存储器 (EPROM)
• 铁电随机存取存储器 (FRAM)
• 磁阻随机存取存储器 (MRAM)
• 相变存储器 (PCM)
• 电阻式随机存取存储器 (RRAM)
• 自旋转移矩磁阻随机存取存储器 (STT-MRAM)
• 3D NAND闪存
• 嵌入式多芯片封装存储器 (eMCP)
• 通用闪存存储 (UFS)
• eMMC存储器
• NVMe存储器
• 伪静态随机存取存储器 (PSRAM)
• 一次性可编程存储器 (OTP)
• 多次可编程存储器 (MTP)
• 非易失性静态随机存取存储器 (nvSRAM)
• 动态配置存储器
• 缓存存储器
• 只读存储器 (ROM)

检测方法

• 功能测试：验证存储器的基本读写操作和逻辑功能是否正确。
• 参数测试：测量电气参数如电压、电流和时序特性。
• 速度测试：评估读写速度和访问时间使用高速测试设备。
• 功耗测试：通过电源分析仪测量不同模式下的功耗。
• 温度循环测试：在高低温环境下测试性能稳定性。
• 可靠性测试：如高温操作寿命（HTOL）测试以评估长期可靠性。
• 耐久性测试：进行循环擦写操作检查磨损寿命。
• 数据保持测试：在特定条件下监测数据保留能力。
• 接口测试：验证与主机接口的协议兼容性。
• 信号完整性测试：使用示波器分析信号质量和时序。
• 电磁兼容性测试：评估在电磁干扰下的性能。
• 静电放电测试：模拟ESD事件检查防护能力。
• 老化测试：通过加速老化评估产品寿命。
• 环境应力测试：结合温湿度变化测试适应性。
• 时序分析：使用逻辑分析仪验证时序参数。
• 错误注入测试：人为引入错误测试纠正机制。
• 电源噪声测试：评估电源波动对性能的影响。
• 封装完整性测试：检查封装可靠性和热性能。
• X射线检测：非破坏性检查内部结构。
• 声学显微镜检测：用于内部缺陷分析。
• 边界扫描测试：通过JTAG接口进行内部测试。
• 误码率测试：评估数据传输错误率。

检测仪器

• 示波器
• 逻辑分析仪
• 参数分析仪
• 存储器测试仪
• 温度试验箱
• 电源供应器
• 万用表
• LCR表
• 频谱分析仪
• 网络分析仪
• 误码率测试仪
• 探针台
• 自动测试设备 (ATE)
• 显微镜
• X射线检测仪
• 热成像仪
• 静电放电模拟器
• 振动测试台