CMOS电路静电敏感度检测

信息概要

• CMOS电路静电敏感度检测是针对互补金属氧化物半导体集成电路对静电放电的耐受性进行评估的测试服务。
• 检测的重要性在于预防ESD导致的电路损伤，提高产品可靠性和寿命，确保符合行业标准如JEDEC和MIL-STD。
• 本检测服务概括了从初始评估到最终认证的全流程，帮助客户优化产品设计并降低质量风险。

检测项目

• ESD耐受电压（人体模型）
• ESD耐受电压（机器模型）
• ESD耐受电压（充电器件模型）
• 漏电流测试
• 输入电压阈值
• 输出电压电平
• 传输延迟时间
• 功耗电流
• 静电放电失效阈值
• 绝缘电阻测试
• 电容耦合测试
• 噪声免疫性
• 信号完整性
• 热插拔性能
• 过压保护测试
• 欠压锁定测试
• 输入阻抗测试
• 输出驱动能力
• 短路保护测试
• 开路测试
• 接地连续性测试
• 电磁兼容性测试
• 温度循环测试
• 湿度敏感性测试
• 振动测试
• 机械冲击测试
• 老化测试
• 功能测试
• 参数测试
• 可靠性测试
• 失效分析测试
• 静电屏蔽效果测试
• 封装完整性测试
• 引脚焊接强度测试

检测范围

• CMOS反相器
• CMOS与非门
• CMOS或非门
• CMOS与门
• CMOS或门
• CMOS异或门
• CMOS触发器
• CMOS移位寄存器
• CMOS计数器
• CMOS多路复用器
• CMOS解码器
• CMOS加法器
• CMOS微处理器
• CMOS微控制器
• CMOS存储器
• CMOS放大器
• CMOS比较器
• CMOS振荡器
• CMOS定时器
• CMOS电源管理IC
• CMOS传感器接口
• CMOS射频电路
• CMOS模拟开关
• CMOS数据转换器
• CMOS逻辑阵列
• CMOS可编程逻辑器件
• CMOS专用集成电路
• CMOS系统芯片
• CMOS图像传感器
• CMOS生物医学芯片
• CMOS汽车电子芯片
• CMOS通信芯片
• CMOS消费电子芯片
• CMOS工业控制芯片

检测方法

• 人体模型测试：模拟人体静电放电对电路的影响。
• 机器模型测试：模拟机器设备放电导致的ESD事件。
• 充电器件模型测试：评估器件在充电状态下的静电敏感性。
• 传输线脉冲测试：使用快速脉冲模拟ESD瞬态。
• 非常快速传输线脉冲测试：针对高速ESD事件的测试方法。
• 电容放电测试：通过电容放电模拟静电冲击。
• 电压扫描测试：逐步增加电压以确定失效点。
• 电流扫描测试：逐步增加电流以评估耐受性。
• 热阻测试：测量电路在ESD下的热性能。
• 电迁移测试：评估ESD导致的金属迁移现象。
• 噪声注入测试：引入噪声信号测试电路稳定性。
• 边界扫描测试：用于检测引脚级别的ESD损伤。
• 功能测试：在ESD事件后验证电路功能是否正常。
• 参数测试：测量ESD前后电路参数的变化。
• 失效分析测试：通过显微技术分析ESD失效机制。
• 环境应力测试：结合温度湿度进行ESD测试。
• 加速寿命测试：通过加速老化评估ESD影响。
• 模拟仿真测试：使用软件模拟ESD事件。
• 实物测试：在真实电路上进行ESD实验。
• 标准符合性测试：依据JEDEC标准进行验证。
• 自定义场景测试：根据客户需求设计特定ESD测试。
• 重复性测试：多次ESD冲击以评估可靠性。

检测仪器

• ESD模拟器
• 示波器
• 万用表
• 高电压电源
• 电流探头
• 静电电压表
• 温度 chamber
• 湿度 chamber
• 振动台
• 冲击测试机
• LCR meter
• 网络分析仪
• 逻辑分析仪
• 显微镜
• 失效分析仪
• 参数分析仪
• 功能测试系统
• 数据采集卡