晶体结构（XRD）检测

信息概要

• 晶体结构XRD检测是一种基于X射线衍射原理的分析技术，用于确定材料的晶体结构、物相组成和微观参数。
• 该检测在材料科学、制药、地质学和工业质量控制中至关重要，可非破坏性地分析样品的结晶度、晶格常数和相变行为。
• 通过XRD检测，能够识别材料的多晶型、缺陷和应力状态，为产品研发和性能评估提供关键数据支持。

检测项目

• 物相鉴定
• 晶格参数计算
• 结晶度分析
• 晶体尺寸测定
• 微观应变分析
• 织构分析
• 残余应力测量
• 薄膜厚度测量
• 晶体结构精修
• 定量相分析
• 非晶含量测定
• 晶体取向分析
• 晶界分析
• 缺陷分析
• 多晶型鉴定
• 固溶体分析
• 晶体对称性确定
• 单位晶胞体积计算
• 密度计算
• 热膨胀系数测定
• 晶体生长分析
• 相变温度测定
• 晶体质量评估
• 表面结构分析
• 界面分析
• 纳米晶体分析
• 高压XRD分析
• 高温XRD分析
• 低温XRD分析
• 原位XRD分析

检测范围

• 金属材料
• 陶瓷材料
• 聚合物材料
• 复合材料
• 半导体材料
• 催化剂材料
• 电池材料
• 磁性材料
• 超导材料
• 生物材料
• 矿物样品
• 药物晶体
• 食品添加剂
• 化妆品成分
• 建筑材料
• 电子元件
• 薄膜材料
• 纳米材料
• 多孔材料
• 晶体粉末
• 单晶样品
• 多晶样品
• 非晶材料
• 液晶材料
• 高分子晶体
• 金属合金
• 氧化物材料
• 硫化物材料
• 氮化物材料
• 碳材料

检测方法

• 粉末X射线衍射（XRD） - 用于多晶样品的物相分析和晶格参数测定。
• 单晶X射线衍射 - 用于准确确定单个晶体的原子结构和对称性。
• 高分辨率XRD - 提供更准确的衍射数据，用于晶格常数精修。
• 掠入射XRD（GIXRD） - 适用于薄膜和表面层的结构分析。
• 小角X射线散射（SAXS） - 用于分析纳米尺度结构和孔隙。
• 广角X射线散射（WAXS） - 用于研究聚合物和材料的结晶行为。
• X射线反射法（XRR） - 测量薄膜的厚度、密度和界面粗糙度。
• 能量色散X射线衍射（EDXRD） - 使用能量色散探测器进行快速衍射分析。
• 角度色散X射线衍射（ADXRD） - 标准衍射方法，基于角度扫描。
• 同步辐射XRD - 利用同步辐射源提高分辨率和灵敏度。
• 实验室XRD - 使用常规X射线源进行日常检测。
• 原位XRD - 在外部条件（如温度、压力）变化下实时监测结构演变。
• 变温XRD - 在不同温度下分析材料的热膨胀和相变。
• 高压XRD - 在高压环境中研究材料的压缩行为。
• 微区XRD - 针对微小区域进行局部结构分析。
• 二维XRD - 使用二维探测器获取全衍射图样。
• 三维XRD - 用于三维晶体结构重建和分析。
• X射线拓扑法 - 可视化晶体缺陷和位错。
• X射线吸收精细结构（XAFS） - 补充XRD，提供局部原子环境信息。
• 时间分辨XRD - 捕捉快速动态过程，如化学反应中的结构变化。

检测仪器

• X射线衍射仪
• 粉末衍射仪
• 单晶衍射仪
• 高分辨率衍射仪
• 薄膜衍射仪
• 小角X射线散射仪
• 广角X射线散射仪
• X射线反射计
• 能量色散X射线光谱仪
• 波长色散X射线光谱仪
• 同步辐射光源
• 实验室X射线发生器
• 二维探测器
• 低温附件
• 高温附件