漏极漏电流测试

信息概要

• 漏极漏电流测试是针对半导体功率器件如MOSFET和IGBT的关键检测项目，用于评估器件在关断状态下的绝缘性能。
• 进行漏极漏电流检测对于确保器件的可靠性、安全性和能效至关重要，可预防因漏电流过大导致的系统故障和功耗增加。
• 本检测服务提供全面的测试方案，涵盖多种参数、方法和仪器，适用于各类半导体产品，确保符合行业标准和质量要求。

检测项目

• 静态漏极漏电流 (IDSS)
• 动态漏极漏电流
• 栅极漏电流 (IGSS)
• 漏源击穿电压 (BVDSS)
• 导通电阻 (RDS(on))
• 阈值电压 (Vth)
• 栅极电荷 (Qg)
• 输出电容 (Coss)
• 反向恢复电荷 (Qrr)
• 热阻 (Rth)
• 漏极漏电流温度系数
• 漏极漏电流电压依赖性
• 关断时间漏电流
• 开启时间漏电流
• 漏极漏电流漂移
• 漏极漏电流噪声
• 漏极漏电流频率响应
• 漏极漏电流长期稳定性
• 漏极漏电流湿热测试
• 漏极漏电流机械应力测试
• 漏极漏电流辐射测试
• 漏极漏电流ESD测试
• 漏极漏电流浪涌测试
• 漏极漏电流寿命测试
• 漏极漏电流失效分析
• 漏极漏电流分布测试
• 漏极漏电流一致性测试
• 漏极漏电流批次测试
• 漏极漏电流在线测试
• 漏极漏电流离线测试

检测范围

• N沟道增强型MOSFET
• P沟道增强型MOSFET
• N沟道耗尽型MOSFET
• P沟道耗尽型MOSFET
• 高压MOSFET
• 低压MOSFET
• 功率MOSFET
• IGBT模块
• IGBT单管
• 肖特基势垒二极管
• PIN二极管
• 晶闸管
• 门极可关断晶闸管
• 碳化硅MOSFET
• 氮化镓HEMT
• 功率集成电路
• 智能功率模块
• 整流桥
• 稳压二极管
• 变容二极管
• 光电耦合器
• MEMS开关
• 太阳能电池
• LED驱动芯片
• 电机驱动芯片
• 电源管理IC
• 射频功率放大器
• 微波晶体管
• 声表面波器件
• 压电传感器

检测方法

• 直流测试法：施加直流电压并测量稳态漏电流。
• 脉冲测试法：使用短脉冲电压以避免器件自热，测量瞬态漏电流。
• 扫描测试法：扫描电压范围，记录漏电流变化。
• 高温测试法：在高温环境下测试漏电流，评估温度影响。
• 低温测试法：在低温下测试，检查低温性能。
• 湿热测试法：在高湿高温条件下测试漏电流稳定性。
• 加速寿命测试法：施加应力加速老化，监测漏电流变化。
• 噪声测试法：测量漏电流的噪声谱，评估器件质量。
• 电容-电压测试法：通过C-V测量间接评估漏电流。
• 传输线脉冲测试法：使用TLP进行ESD相关漏电流测试。
• 浪涌测试法：施加浪涌电流，测试漏电流响应。
• 绝缘电阻测试法：测量漏极与其他端子的绝缘电阻。
• 四探针测试法：用于准确测量电阻和漏电流。
• 光谱分析测试法：分析漏电流的频率成分。
• 显微镜检查法：结合显微镜观察缺陷导致的漏电流。
• 热成像测试法：使用热像仪检测热点与漏电流相关。
• 电化学测试法：评估湿气引起的漏电流。
• 辐射硬度测试法：在辐射环境下测试漏电流变化。
• 机械振动测试法：施加振动，测试机械应力对漏电流的影响。
• 封装完整性测试法：检查封装泄漏导致的漏电流。

检测仪器

• 半导体参数分析仪
• 数字万用表
• 高电压电源
• 电流源
• 示波器
• 温度箱
• 湿度箱
• 静电放电模拟器
• 浪涌发生器
• 网络分析仪
• 频谱分析仪
• 热成像相机
• 显微镜
• 探针台
• 数据采集系统