颗粒形貌观察测试

信息概要

• 颗粒形貌观察测试是一种通过显微镜和图像分析技术，对颗粒的尺寸、形状、分布及表面特征进行定量和定性分析的方法，广泛应用于材料科学、制药、化工等领域，为产品质量控制提供关键数据。
• 检测的重要性在于确保材料性能一致性、优化生产工艺、满足行业标准和法规要求，同时支持新产品研发和故障分析，提升产品竞争力。
• 本检测服务概括了从样品制备、形貌观察到数据处理的全流程，提供准确、可靠的颗粒特性报告，帮助客户实现精准质量控制。

检测项目

• 平均粒径
• 中值粒径(D50)
• 粒径分布(D10)
• 粒径分布(D90)
• 粒径分布宽度
• 颗粒圆形度
• 长径比
• 比表面积
• 孔体积
• 孔径分布
• 颗粒形状因子
• 球形度
• 圆度
• 凸度
• 固体度
• 表面粗糙度
• 颗粒计数
• 浓度分布
• 团聚指数
• 分散性
• 密度
• 流动性
• 压缩性
• 硬度
• 颜色
• 透明度
• 折射率
• 磁性
• 电导率
• 热稳定性

检测范围

• 金属粉末
• 陶瓷颗粒
• 聚合物颗粒
• 药品颗粒
• 化妆品粉末
• 食品添加剂颗粒
• 颜料颗粒
• 催化剂颗粒
• 纳米材料
• 微球
• 纤维颗粒
• 沉淀物
• 土壤颗粒
• 大气颗粒物
• 水处理絮凝物
• 电池材料颗粒
• 涂料填料
• 塑料添加剂
• 橡胶颗粒
• 纺织纤维
• 生物颗粒
• 矿物粉末
• 煤炭颗粒
• 水泥颗粒
• 沙子
• 灰尘
• 花粉
• 病毒颗粒
• 蛋白质聚集体
• 复合材料颗粒

检测方法

• 扫描电子显微镜(SEM)：使用电子束扫描样品表面，获得高分辨率形貌图像。
• 透射电子显微镜(TEM)：电子束穿透薄样品，提供内部结构信息。
• 原子力显微镜(AFM)：通过探针扫描表面，测量三维形貌和粗糙度。
• 激光衍射粒度分析：基于光散射原理测量颗粒的粒径分布。
• 动态光散射(DLS)：测量纳米颗粒在分散液中的水合粒径。
• 静态光散射：用于测量颗粒的大小和分子量。
• 图像分析技术：通过数字图像处理定量颗粒的几何参数。
• X射线衍射(XRD)：分析颗粒的晶体结构和物相组成。
• 比表面积分析(BET法)：通过氮气吸附测量材料的比表面积。
• 压汞法：用于测量多孔材料的孔体积和孔径分布。
• 筛分法：使用一系列标准筛网进行颗粒大小分级。
• 沉降法：基于斯托克斯定律，通过沉降速度测量粒径。
• 库尔特原理：电感应法计数和测量颗粒体积。
• 纳米颗粒跟踪分析(NTA)：可视化并跟踪颗粒的布朗运动以测量粒径。
• 拉曼光谱：提供颗粒的化学信息和分子结构。
• 红外光谱(FTIR)：用于分析颗粒的表面化学组成。
• 热重分析(TGA)：测量颗粒在加热过程中的质量变化，评估热稳定性。
• 差示扫描量热法(DSC)：分析颗粒的热行为如熔点和玻璃化转变。
• 能谱分析(EDS)：与电子显微镜联用，进行元素成分分析。
• 质谱法：用于颗粒的元素或同位素分析。

检测仪器

• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 原子力显微镜
• 激光粒度分析仪
• 动态光散射仪
• 图像分析系统
• X射线衍射仪
• 比表面积分析仪
• 压汞仪
• 标准筛组
• 沉降天平
• 库尔特计数器
• 纳米颗粒跟踪分析仪
• 拉曼光谱仪
• 红外光谱仪