CMOS传感器性能漂移测试

信息概要

• CMOS传感器性能漂移测试是针对互补金属氧化物半导体图像传感器的长期稳定性评估项目，涉及在特定环境条件下监测其电气和光学参数的变化，确保产品在长期使用中保持一致性。
• 检测的重要性在于防止性能漂移导致的图像质量下降，对于安防监控、医疗成像、工业检测和自动驾驶等关键应用领域至关重要，可提升产品可靠性和用户安全。
• 本检测服务概括了从初始校准到加速老化测试的全套流程，通过标准化方法对CMOS传感器的多项参数进行系统评估，为客户提供全面的质量验证和合规性支持。

检测项目

• 暗电流
• 信噪比
• 动态范围
• 量子效率
• 灵敏度
• 线性度
• 均匀性
• 坏点数量
• 响应度
• 满阱容量
• 读出噪声
• 固定模式噪声
• 快门效率
• 串扰
• 色彩还原性
• 白平衡
• 伽马值
• 曝光时间精度
• 增益
• 偏移
• 温度系数
• 湿度影响
• 电压稳定性
• 频率响应
• 延迟时间
• 功耗
• 热噪声
• 光子转移曲线
• 调制传递函数
• 点扩散函数
• 暗信号非均匀性
• 光响应非均匀性
• 饱和输出电压
• 非线性误差
• 图像滞后

检测范围

• 全局快门CMOS传感器
• 滚动快门CMOS传感器
• 背照式CMOS传感器
• 堆叠式CMOS传感器
• 单色CMOS传感器
• 彩色CMOS传感器
• 高动态范围CMOS传感器
• 低光CMOS传感器
• 高速CMOS传感器
• 科学级CMOS传感器
• 工业级CMOS传感器
• 消费级CMOS传感器
• 手机摄像头CMOS传感器
• 安防监控CMOS传感器
• 医疗成像CMOS传感器
• 汽车摄像头CMOS传感器
• 无人机摄像头CMOS传感器
• 机器视觉CMOS传感器
• 天文观测CMOS传感器
• 微光CMOS传感器
• 红外CMOS传感器
• 紫外CMOS传感器
• 全局复位CMOS传感器
• 像素内存储CMOS传感器
• 高分辨率CMOS传感器
• 小像素尺寸CMOS传感器
• 低功耗CMOS传感器
• 高温CMOS传感器
• 辐射硬化CMOS传感器
• 柔性CMOS传感器
• 3D集成CMOS传感器
• 多光谱CMOS传感器
• 事件驱动CMOS传感器
• 神经形态CMOS传感器

检测方法

• 高温操作测试：将传感器置于高温环境，监测参数变化以评估热稳定性。
• 低温存储测试：在低温条件下存储后测试性能恢复情况。
• 湿度循环测试：交替高低温湿度环境，评估防潮性能。
• 电压偏置测试：施加不同电压，检查电气参数漂移。
• 光照老化测试：持续光照下测试光衰特性。
• 机械振动测试：模拟运输或使用振动，评估机械耐久性。
• 热冲击测试：快速温度变化测试，检验热应力耐受性。
• 盐雾测试：暴露于盐雾环境，评估耐腐蚀性。
• ESD测试：静电放电测试，检查静电防护能力。
• 寿命测试：长期运行监测性能衰减。
• 加速老化测试：提高温度或电压加速性能漂移评估。
• 暗场测试：无光条件下测量暗电流和噪声。
• 平场测试：均匀光照下检验响应均匀性。
• 光谱响应测试：使用单色光源测试不同波长的灵敏度。
• 线性度测试：通过梯度光照验证输入输出线性关系。
• 噪声测试：测量读出噪声和固定模式噪声水平。
• 动态范围测试：确定最小可测信号到饱和信号的範圍。
• 量子效率测试：计算光子到电子的转换效率。
• 串扰测试：评估像素间光学和电气干扰。
• MTF测试：调制传递函数测量以评估图像清晰度。
• 光子转移曲线测试：通过光照变化分析信号转换特性。
• 功耗测试：监测不同工作模式下的能耗。
• 频率响应测试：施加交流信号评估带宽性能。
• 图像滞后测试：检查曝光后残留图像效应。

检测仪器

• 示波器
• 光谱分析仪
• 电源供应器
• 温湿度试验箱
• 积分球
• 单色仪
• 标准光源
• 数字万用表
• 图像分析软件
• 暗箱
• 振动试验台
• ESD模拟器
• 数据采集卡
• 显微镜
• 光谱辐射计
• 温度控制器
• 光度计
• 噪声分析仪
• 老化测试系统
• 线性度测试仪