混合信号芯片漏电流测试

信息概要

• 混合信号芯片漏电流测试是针对集成模拟和数字电路的半导体器件，在待机或关断模式下测量泄漏电流的检测项目。该测试有助于评估芯片的低功耗性能，确保其符合行业标准。
• 检测的重要性在于，漏电流是影响芯片功耗和可靠性的关键参数。过高的漏电流会导致电池寿命缩短、设备发热及系统故障，通过测试可优化设计并提升产品竞争力。
• 本服务提供全面的漏电流评估，包括不同电压、温度条件下的测试，涵盖静态和动态模式，帮助客户验证产品性能并满足市场需求。

检测项目

• 静态电源漏电流 (IDDQ)
• 输入高电平漏电流
• 输入低电平漏电流
• 输出高电平漏电流
• 输出低电平漏电流
• 待机模式漏电流
• 关断模式漏电流
• 工作模式动态漏电流
• 电源电压变化下的漏电流
• 温度变化下的漏电流
• 漏电流温度系数
• 漏电流电压系数
• 输入漏电流最大值
• 输出漏电流最小值
• 三态输出漏电流
• 模拟部分漏电流
• 数字部分漏电流
• 混合信号接口漏电流
• 时钟引脚漏电流
• 复位引脚漏电流
• 使能引脚漏电流
• 不同工艺角下的漏电流
• 老化后的漏电流
• 瞬态漏电流
• 交流漏电流
• 直流漏电流
• 漏电流的统计分布
• 漏电流与频率关系
• 漏电流与负载关系
• 漏电流的长期稳定性

检测范围

• 模数转换器 (ADC)
• 数模转换器 (DAC)
• 混合信号微控制器
• 传感器信号调理器
• 音频编解码器
• 视频处理器
• 射频混合信号芯片
• 电源管理IC
• 接口芯片 (如USB, HDMI)
• 数据采集系统
• 锁相环 (PLL) 芯片
• 时钟发生器
• 模拟开关
• 多路复用器
• 比较器
• 运算放大器混合芯片
• 数字电位器
• 温度传感器接口
• 光线传感器接口
• 运动传感器接口
• 生物医学传感器接口
• 汽车混合信号芯片
• 工业控制混合信号芯片
• 消费电子混合信号芯片
• 通信混合信号芯片
• 医疗设备混合信号芯片
• 航空航天混合信号芯片
• 低功耗混合信号芯片
• 高速混合信号芯片
• 高精度混合信号芯片

检测方法

• 直流参数测试法：使用直流电源和电流表直接测量静态漏电流。
• 静态电流测试法：在芯片非活动状态下测量电源电流以评估漏电。
• 动态电流测试法：在开关操作中测量平均漏电流，反映动态功耗。
• 温度循环测试法：通过变化温度环境测量漏电流的温度依赖性。
• 电压扫描测试法：扫描电源电压范围，记录漏电流随电压的变化。
• 时间域测试法：监测漏电流随时间的变化，评估稳定性。
• 频率域测试法：分析漏电流的频率响应，用于交流特性评估。
• 六端口网络分析：适用于高频混合信号芯片的漏电流测量。
• 吉时利测试法：利用高精度仪器进行低电平漏电流检测。
• 示波器电流探头法：结合电流探头和示波器测量瞬态漏电流。
• 源测量单元 (SMU) 测试法：使用SMU进行四线制精密电流测量。
• 参数分析仪测试法：通过专用分析仪自动化测试多参数漏电流。
• 自动测试设备 (ATE) 测试法：在ATE平台上编程实现高速漏电流测试。
• 边界扫描测试法：利用JTAG接口测试数字引脚的漏电流。
• 内置自测试 (BIST) 法：通过芯片内部电路自检漏电流，减少外部依赖。
• 模拟仿真法：使用SPICE等工具仿真预估漏电流行为。
• 实际应用测试法：在真实系统中测量漏电流，验证实际性能。
• 加速寿命测试法：施加高温高压条件，评估漏电流的长期退化。
• 统计分析测试法：对多个样品进行统计，分析漏电流分布和一致性。
• 比较测试法：与参考标准器件对比，快速评估漏电流水平。

检测仪器

• 源测量单元 (SMU)
• 数字万用表 (DMM)
• 参数分析仪
• 自动测试设备 (ATE)
• 示波器
• 电流探头
• 温度箱
• 电源供应器
• 信号发生器
• 逻辑分析仪
• 频谱分析仪
• 网络分析仪
• 数据采集卡
• 吉时利仪器
• 半导体参数分析仪